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李震

作品数:26 被引量:4H指数:1
供职机构:中国电子科技集团第十一研究所更多>>
相关领域:电子电信自动化与计算机技术文化科学金属学及工艺更多>>

文献类型

  • 22篇专利
  • 4篇期刊文章

领域

  • 8篇电子电信
  • 3篇自动化与计算...
  • 1篇金属学及工艺
  • 1篇文化科学

主题

  • 13篇碲镉汞
  • 12篇分子束
  • 11篇分子束外延
  • 6篇探测器
  • 5篇碲镉汞材料
  • 4篇碲锌镉
  • 4篇红外
  • 3篇束流
  • 3篇晶格
  • 3篇衬底
  • 2篇直接蒸发
  • 2篇置入
  • 2篇势垒
  • 2篇势垒层
  • 2篇适配
  • 2篇双层势
  • 2篇双色红外
  • 2篇气口
  • 2篇腔体
  • 2篇热偶

机构

  • 26篇中国电子科技...

作者

  • 26篇李震
  • 13篇高达
  • 12篇王丛
  • 12篇邢伟荣
  • 9篇折伟林
  • 5篇周朋
  • 3篇刘铭
  • 3篇王经纬
  • 2篇孙浩
  • 1篇王成刚
  • 1篇周立庆
  • 1篇朱西安
  • 1篇谭振

传媒

  • 3篇红外
  • 1篇激光与红外

年份

  • 7篇2025
  • 4篇2024
  • 7篇2023
  • 5篇2022
  • 1篇2021
  • 1篇2019
  • 1篇2010
26 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
坩埚及分子束外延系统
本发明公开了一种坩埚及分子束外延系统。用于提升分子束外延系统束流均匀性的坩埚包括:坩埚本体,用于盛放原料,坩埚本体为一端敞开、另一端封闭的中空柱体;支撑结构,设于坩埚本体的敞开端,支撑结构用于将坩埚本体的敞开端的空间分割...
高达王丹李震王丛王经纬刘铭
一种分子束外延碲镉汞外延表面温度控制方法
本申请公开了一种分子束外延碲镉汞外延表面温度控制方法,包括:固定衬底;利用热偶控制外延表面温度,采用温度补偿生长方式,基于所述衬底生长碲镉汞材料,并进行As掺杂;在生长碲镉汞材料的过程中,确定不同深度As掺杂浓度的变化量...
高达王丹李震周朋王丛
一种双色红外器件结构及红外探测器
本发明公开了一种双色红外器件结构及红外探测器,所述双色红外器件结构具有从下至上设置的第一衬底,材料为InSb,作为所述双色红外器件的基础层;过渡层,材料为InSb,作为缓冲层和下电极层;第一吸收层,材料为InSb,用以实...
周朋胡雨农王丹李震
一种碲镉汞双色材料结构及其制备方法
本申请公开了一种碲镉汞双色材料结构及其制备方法,包括顺次设置的衬底、波段1p型吸收层、n型阻挡层和波段2p型吸收层;所述波段1p型吸收层Cd组分范围为0.26‑0.40;所述n型阻挡层Cd组分范围为0.3‑0.45;所述...
王丹李震周睿邢伟荣王丛
一种热处理装置及方法
本发明公开了一种热处理装置及方法,包括,加热炉和反应釜;所述加热炉,具有与所述反应釜相匹配的第一腔体;所述反应釜,形状与所述腔体匹配,具有第一空间,所述第一空间内设置有汞源、支撑杆和样品支架;所述反应釜,设置有进气口和出...
王丹高达李震王丛
文献传递
分子束外延Si基碲镉汞材料的As掺杂研究
2025年
为了制备出可靠性高、掺杂浓度可控的高质量碲镉汞(HgCdTe)材料,需对As掺杂后的HgCdTe材料特性进行研究。报道了分子束外延(Molecular Beam Epitaxy, MBE)硅基碲镉汞As掺杂技术。利用As裂解源作为As掺杂源,制备出高质量碲镉汞材料,其中As掺杂浓度可达到8×10^(18)cm^(-3)。研究发现,As掺杂对生长温度、As束流、材料组分等材料生长参数十分敏感,通过改进生长温度控制以及衬底加热方式可实现As浓度在材料横向和纵向的均匀分布。利用两步退火法开展As激活退火。当As浓度低于3×10^(17)cm^(-3)时,激活率趋于100%;随着As掺杂浓度的增加,激活率呈现下降趋势。
王丹李震姜梦佳邢伟荣管崇尚
关键词:分子束外延碲镉汞
一种用于碲锌镉基碲镉汞分子束外延的表面重构方法及装置
本申请公开了一种用于碲锌镉基碲镉汞分子束外延的表面重构方法,包括:对碲锌镉衬底进行湿化学处理,得到碲锌镉衬底样品;对置于分子束外延设备装样腔中的碲锌镉衬底样品加热处理,得到去除水气的第一衬底样品;对置于分子束外延设备生长...
管崇尚邢伟荣周睿李震姜梦佳王丹胡雨农折伟林
碲镉汞雪崩光电探测器的发展与展望
2025年
通过对现有的几类主流碲镉汞(HgCdTe)雪崩光电二极管(Avalanche Photodiode,APD)器件进行梳理,简要总结了目前国际上主流的APD器件发展路线,并分析了包括PIN、高密度垂直集成光电二极管(High-Density Vertically Integrated Photodiode,HDVIP)和吸收--倍增分离(Separated Absorption and Multiplication,SAM)型器件在内的主要APD器件的结构与性能特点。通过对比不同技术路线的器件优化思路和性能特点,对相关器件的持续发展进行了展望。目前SAM型器件是主流APD器件中暗电流抑制和高温工作性能最好的结构,能够实现高增益条件下的高灵敏度探测。这也为相关器件工艺的发展开辟了新方向。
管崇尚邢伟荣周睿李震姜梦佳王丹折伟林
关键词:碲镉汞雪崩增益噪声
基于高低温循环退火方法的硅基碲镉汞位错抑制研究
2025年
高低温循环退火是降低碲镉汞(HgCdTe)材料位错密度的有效策略之一,被广泛用于提升HgCdTe质量。使用离位的高低温循环退火工艺对硅基HgCdTe材料进行热处理,并通过设计正交试验研究退火条件对HgCdTe材料的影响。在温度区间250~450℃、升温时间5 min、循环12次的条件下获得最佳退火效果。采用统计位错密度的方法对比退火前后HgCdTe材料的位错变化。与未退火的HgCdTe相比,退火后的HgCdTe位错密度降低了80%左右,为1×10^(6)~2×10^(6)cm^(-2)。X射线摇摆曲线测试结果表明,退火后硅基HgCdTe的半峰宽可降至75~80 arcsec。本研究综合提升了硅基HgCdTe的质量,为焦平面器件的研发提供了高质量的材料基础。
姜梦佳折伟林王丹李震周睿管崇尚邢伟荣牛佳佳
关键词:位错密度
分子束外延用衬底粘接方法
本发明公开了一种分子束外延用衬底粘接方法,所述方法包括:将钼托放置在第一夹具上,并在钼托上依次层叠放置铟片、衬底、第二夹具;将组合后的第一夹具、钼托、铟片、衬底和第二夹具放置于真空烘烤箱内,并在第一时间段内抽真空,在第二...
高达王经纬王丛李震刘铭周立庆
文献传递
共3页<123>
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