陈大为
- 作品数：4 被引量：16H指数：3
- 供职机构：中国电子技术标准化研究院更多>>
- 发文基金：国家科技重大专项更多>>
- 相关领域：电子电信经济管理更多>>
- 超高频无源标签芯片测试方法研究被引量：3
- 2017年
- 目的是完成超高频无源标签芯片测试中的步骤、条件、影响因素和注意事项的标准化工作,为相关标准引入国军标的决策提供支撑。通过调研国内超高频无源标签芯片的需求和研制现状,汇总分析目前国军标中标签芯片的性能评价试验要求。会同国内主要的标签芯片设计厂家研究标签芯片性能的测试方法,进而形成了《超高频无源标签芯片测试方法(草案)》的标准文本,并基于此标准草案组织了国内首次超高频无源标签芯片的比对测试。测试结果表明,目前国内自主研制的超高频无源标签芯片读灵敏度在高低温条件下可以做到小于-13dBm,写灵敏度小于-11dBm,最大工作功率大于20dBm,与国际主流芯片的指标仍存在提高的空间。通过对测试结果的分析,认为制定的测试方法基本可以全面反映芯片的性能,可以作为一种标准方法加以固化,供设计、生产、应用单位加以使用。
- 菅端端陈大为袁修华
- 关键词：超高频
- 以标准化为引领 推动我国汽车芯片产业创新发展被引量：5
- 2019年
- 围绕我国汽车芯片领域可靠性标准缺失、可靠性测试方法研究滞后及未结合我国国情开展认证工作等问题,提出我国从汽车制造大国向汽车制造强国转变的对策与建议:以标准为引领,带动汽车芯片设计、制造、封装测试及认证等关键环节全面提升,实现重点突破、协同创新、促进我国汽车工业实现转型升级。
- 赵鑫殷梦迪陈大为
- 一种超高频无源芯片性能测试系统及其损耗测量装置
- 本实用新型公开了一种超高频无源芯片性能测试系统及其损耗测试装置，包括：主控制器、基带处理器、上变频器、下变频器、可变增益放大器、环形器和自动网络匹配电路，主控制器连接基带处理器向其发出控制信号；基带处理器的输出端连接上变...
- 菅端端任翔赵鑫陈大为
- 文献传递
- 可测性设计测试向量低功耗设计方法被引量：8
- 2016年
- 随着半导体工艺尺寸的不断缩小和芯片集成度的提高,大规模、高性能处理器中的测试面临着许多严峻的挑战,其中,测试功耗已经成为大规模、高性能处理器生产测试中的关键性问题。可测性设计中的功耗较常规功能模式下的的功耗更高,过高的测试功耗高会导致芯片结构损坏、可靠性下降、成品率降低和测试成本增加等问题。可测性设计技术是降低测试成本,提高测试质量的有效手段,但是在对电路进行可测性设计的过程中有可能会造成功耗问题更加严重。本研究对可测性设计的低功耗测试向量的X-Fill、时钟门控、功率分割等低功耗技术进行了介绍和分析,通过开源处理器LEON3作为实例,进行了实用的低功耗测试技术的分析和实验,提出可测性设计低功耗测试向量的设计方法。
- 胡海涛钟明琛陈大为陈莉
- 关键词：可测性设计低功耗
