胡海涛
- 作品数：5 被引量：12H指数：2
- 供职机构：中国电子技术标准化研究院更多>>
- 发文基金：国家科技重大专项更多>>
- 相关领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>
- 基于电流测试的SoC量产测试方法研究被引量：1
- 2019年
- 通过对一款以ARM处理器为内核,外围模块包括SRAM、Flash、CAN、I2C等通信模块的车载系统级芯片(SoC)的分析,结合静态电流、动态电流、IDDQ测试项目测试速度快、硬件资源要求不高的优点,替换了SoC部分功能测试项目,节约了测试时间,达到了在保证测试质量的前提下,节省测试成本的目的。
- 胡海涛钟明琛
- 关键词：静态电流动态电流量产SOC
- 用于测试FPGA的Multi-Port下载方式被引量：2
- 2012年
- 研究利用V93000测试平台对FPGA芯片实现下载,该测试平台通过自身通道存储空间来存储测试向量,以Multi-Port方式进行下载。并以Xilinx的Virtex-Ⅱ Pro系列XC2VP30芯片进行了实例验证,实验表明此种方式在实际应用中解决了测试平台向量许可有限的弊端,也可用于其他FPGA芯片的测试、研究与验证。
- 胡海涛钟明琛刘彬
- 关键词：ATEFPGAFLASH
- 同步动态随机存储器时序参数容限测试方法研究被引量：2
- 2021年
- 对同步动态随机存储器(SDRAM)的时序参数进行了分析,并采用Shmoo测试方法,对某国产DDR2 SDRAM的t RCD、t RAS、t RP、t RC、t CK等时序参数的容限进行了测试。通过与JEDEC标准的对比验证,证明该产品的时序参数满足JEDEC标准的要求,并得到了相关参数的容限,为该类产品的质量评估和可靠应用提供了参考。
- 南江孔宪伟胡海涛李进
- 关键词：SDRAMDDR2
- 可测性设计测试向量低功耗设计方法被引量：8
- 2016年
- 随着半导体工艺尺寸的不断缩小和芯片集成度的提高,大规模、高性能处理器中的测试面临着许多严峻的挑战,其中,测试功耗已经成为大规模、高性能处理器生产测试中的关键性问题。可测性设计中的功耗较常规功能模式下的的功耗更高,过高的测试功耗高会导致芯片结构损坏、可靠性下降、成品率降低和测试成本增加等问题。可测性设计技术是降低测试成本,提高测试质量的有效手段,但是在对电路进行可测性设计的过程中有可能会造成功耗问题更加严重。本研究对可测性设计的低功耗测试向量的X-Fill、时钟门控、功率分割等低功耗技术进行了介绍和分析,通过开源处理器LEON3作为实例,进行了实用的低功耗测试技术的分析和实验,提出可测性设计低功耗测试向量的设计方法。
- 胡海涛钟明琛陈大为陈莉
- 关键词：可测性设计低功耗
- 一种芯片参数容限测试方法和装置
- 本发明涉及一种芯片参数容限测试方法和装置，通过总线与热流罩进行连接并对热流罩进行控制。在测试过程中，ATE机台按照程序的设置自动将热流罩依次设定为所需的不同的温度，并在温度达到设定值后自动对电压和时序参数的组合条件进行遍...
- 南江孔宪伟胡海涛钟伟军任翔赵鑫
- 文献传递
