您的位置： 专家智库 > >

韩健

作品数：5 被引量：0H指数：0
供职机构：西安电子科技大学更多>>
相关领域：自动化与计算机技术轻工技术与工程更多>>

合作作者

文献类型

  • 4篇专利
  • 1篇学位论文

领域

  • 2篇自动化与计算...
  • 1篇轻工技术与工...

主题

  • 2篇多尺度
  • 2篇多尺度分析
  • 2篇序列数据
  • 2篇异常检测
  • 2篇异常检测模型
  • 2篇伺服
  • 2篇伺服系统
  • 2篇子序列
  • 2篇芯片
  • 2篇列数
  • 2篇卷积
  • 2篇编码器
  • 1篇印刷
  • 1篇生产线
  • 1篇矢量变频
  • 1篇全对称
  • 1篇系统设计
  • 1篇逻辑控制
  • 1篇逻辑控制器
  • 1篇解码

机构

  • 5篇西安电子科技...

作者

  • 5篇韩健
  • 4篇任获荣
  • 2篇李志武
  • 2篇平续斌
  • 2篇刘洋
  • 2篇马振
  • 2篇张志新

年份

  • 1篇2025
  • 1篇2023
  • 2篇2022
  • 1篇2012
共 5 条 记 录，以下是 1-5
全选 清除 导出
排序方式：
壁纸印刷同步压花生产线系统设计
近几年来，在对住房要求越来越高的社会需求下，房屋装修建材发展日新月异，墙壁装潢越发丰富多彩，已经不能满足于传统的白墙装饰，于是壁纸逐渐成为了一个主流建材产品，随着国内装饰行业的快速发展，对壁纸需求越来越旺盛。过去壁纸的成...
韩健
关键词：可编程逻辑控制器矢量变频
一种伺服系统多尺度健康评估与故障预测方法
本发明公开了一种伺服系统多尺度健康评估与故障预测方法，改善了现有技术中伺服控制系统设备性能监测的可靠性仍需提高的问题。该发明对预处理后的振动信号进行多尺度分析，将原始振动序列数据转化为数个子序列；对序列数据进行异常检测，...
任获荣吕银飞徐思宇李志武卫炜张雷雷韩健刘洋孙通
一种基于改进卷积变分自编码器的芯片表面缺陷并行检测方法
本发明公开了一种基于改进卷积变分自编码器的芯片表面缺陷并行检测方法，改善了现有技术中芯片表面缺陷检测仍须智能化的问题。该发明含有以下步骤，步骤1，芯片图像采集与预处理；步骤2，构建并训练改进的卷积变分自编码器；步骤3，对...
任获荣马振韩健平续斌焦小强张志新
一种伺服系统多尺度健康评估与故障预测方法
本发明公开了一种伺服系统多尺度健康评估与故障预测方法，改善了现有技术中伺服控制系统设备性能监测的可靠性仍需提高的问题。该发明对预处理后的振动信号进行多尺度分析，将原始振动序列数据转化为数个子序列；对序列数据进行异常检测，...
任获荣吕银飞徐思宇李志武卫炜张雷雷韩健刘洋孙通
文献传递
一种基于改进卷积变分自编码器的芯片表面缺陷并行检测方法
本发明公开了一种基于改进卷积变分自编码器的芯片表面缺陷并行检测方法，改善了现有技术中芯片表面缺陷检测仍须智能化的问题。该发明含有以下步骤，步骤1，芯片图像采集与预处理；步骤2，构建并训练改进的卷积变分自编码器；步骤3，对...
任获荣马振韩健平续斌 焦小强张志新
文献传递
全选 清除 导出
共1页<1>
聚类工具0