您的位置： 专家智库 > >

马振

作品数：4 被引量：0H指数：0
供职机构：西安电子科技大学更多>>
相关领域：自动化与计算机技术电子电信机械工程更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇学位论文
  • 2篇专利

领域

  • 1篇机械工程
  • 1篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 2篇芯片
  • 2篇卷积
  • 2篇编码器
  • 1篇信源
  • 1篇图像
  • 1篇图像特征
  • 1篇全对称
  • 1篇自适
  • 1篇自适应
  • 1篇领域自适应
  • 1篇解码
  • 1篇解码器
  • 1篇矩阵
  • 1篇矩阵分解
  • 1篇非负矩阵
  • 1篇非负矩阵分解
  • 1篇非负矩阵分解...
  • 1篇高斯
  • 1篇高斯分布
  • 1篇变分

机构

  • 4篇西安电子科技...

作者

  • 4篇马振
  • 2篇任获荣
  • 2篇平续斌
  • 2篇韩健
  • 2篇张志新

年份

  • 1篇2025
  • 1篇2023
  • 1篇2022
  • 1篇2008
共 4 条 记 录，以下是 1-4
全选 清除 导出
排序方式：
模式表示非负矩阵分解算法的特性研究
非负矩阵分解算法（NMF）具有不要求信源统计独立、不要求信源为非高斯分布的优点，因而引起了国内外学者的广泛关注。模式表示非负矩阵分解算法（PE-NMF）是对NMF的一种扩展。这种改进后的算法解决了传统NMF算法所获得的基...
马振
关键词：非负矩阵分解算法信源高斯分布
文献传递
基于图像特征与领域自适应的剩余使用寿命预测研究
剩余使用寿命预测是设备故障预测和健康管理技术的基础和核心,它通过分析设备的运行状态数据对其剩余使用寿命(RUL)进行预测,在保障设备安全可靠地运行的同时,还能够提高生产效率、降低维护成本、规避事故风险,在工业生产、航空航...
马振
关键词：领域自适应CNNTRANSFORMER
一种基于改进卷积变分自编码器的芯片表面缺陷并行检测方法
本发明公开了一种基于改进卷积变分自编码器的芯片表面缺陷并行检测方法，改善了现有技术中芯片表面缺陷检测仍须智能化的问题。该发明含有以下步骤，步骤1，芯片图像采集与预处理；步骤2，构建并训练改进的卷积变分自编码器；步骤3，对...
任获荣马振韩健平续斌焦小强张志新
一种基于改进卷积变分自编码器的芯片表面缺陷并行检测方法
本发明公开了一种基于改进卷积变分自编码器的芯片表面缺陷并行检测方法，改善了现有技术中芯片表面缺陷检测仍须智能化的问题。该发明含有以下步骤，步骤1，芯片图像采集与预处理；步骤2，构建并训练改进的卷积变分自编码器；步骤3，对...
任获荣马振韩健平续斌 焦小强张志新
文献传递
全选 清除 导出
共1页<1>
聚类工具0