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李光

作品数：3 被引量：1H指数：1
供职机构：中国电子科技集团第五十八研究所更多>>
发文基金：江苏省自然科学基金更多>>
相关领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇专利
  • 1篇期刊文章

领域

  • 1篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 3篇VIRTEX
  • 2篇芯片
  • 2篇架构
  • 2篇FPGA芯片
  • 2篇测试法
  • 1篇自测试
  • 1篇向量
  • 1篇内建自测试
  • 1篇FPGA
  • 1篇测试向量

机构

  • 3篇中国电子科技...

作者

  • 3篇李光
  • 2篇谢达
  • 1篇谢文虎

传媒

  • 1篇电子与封装

年份

  • 1篇2019
  • 2篇2017
共 3 条 记 录，以下是 1-3
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排序方式：
基于Virtex架构的FPGA芯片二倍线故障测试法
本发明涉及基于Virtex架构的FPGA芯片二倍线故障测试法，包括：配置逻辑单元将相邻行或者相邻列的二倍线连接起来，其中起始的配置逻辑单元将IO的输入和二倍线的输入连接起来，终止的配置逻辑单元将IO的输出和二倍线的输出连...
董宜平李光谢达
文献传递
基于Virtex 4 FPGA的全覆盖二倍线内建自测试被引量：1
2017年
随着集成电路技术的发展,高集成度和高复杂度的器件不断出现,大规模集成电路的测试技术成为重要的研究方向。自建内测试方法是一种有效的系统级大规模集成电路FPGA测试方法。提出了一种基于Xilinx公司Virtex-4(V4)系列芯片全覆盖的FPGA二倍线内建自测试方法,该方法采用脚本生成Xilinx设计语言(XDL),对V4芯片二倍线进行全局布线,然后进行FPGA配置,施加测试向量,从而对固定故障或者桥接故障进行测试。同时给出了基于XC4VLX100芯片的实际测试结果,验证了该测试方法的正确性。
董宜平谢文虎李光
关键词：内建自测试测试向量
基于Virtex架构的FPGA芯片二倍线故障测试法
本发明涉及基于Virtex架构的FPGA芯片二倍线故障测试法，包括：配置逻辑单元将相邻行或者相邻列的二倍线连接起来，其中起始的配置逻辑单元将IO的输入和二倍线的输入连接起来，终止的配置逻辑单元将IO的输出和二倍线的输出连...
董宜平李光谢达
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