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曾荣树

作品数：2 被引量：0H指数：0
供职机构：同济大学更多>>
相关领域：自然科学总论更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇中文标准

领域

  • 1篇自然科学总论

主题

  • 2篇扫描电镜
  • 2篇通则
  • 2篇纳米
  • 2篇纳米级
  • 1篇电子装置
  • 1篇扫描器
  • 1篇显微镜
  • 1篇光学
  • 1篇光学扫描
  • 1篇光学扫描器
  • 1篇测量方法

机构

  • 2篇同济大学
  • 2篇中国科学院
  • 1篇上海理工大学
  • 1篇中国地质科学...

作者

  • 2篇张训彪
  • 2篇廖宗廷
  • 2篇曾荣树
  • 1篇卢德生

年份

  • 2篇2006
共 2 条 记 录，以下是 1-2
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排序方式：
纳米级长度的扫描电镜测量方法通则 现行
张训彪曾荣树廖宗廷卢德生刘芬李戎周剑雄邓保庆等
纳米级长度的扫描电镜测量方法通则
本标准规定了用扫描电镜测量纳米级长度的基本原则。适用于测量10NM～500NM的点或线的间距。
张训彪曾荣树廖宗廷卢德生刘芬李戎周剑雄邓保庆等
关键词：显微镜电子装置纳米光学扫描器
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