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王英杰

作品数：1 被引量：9H指数：1
供职机构：上海交通大学电子信息与电气工程学院更多>>
发文基金：教育部留学回国人员科研启动基金更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇显微镜
  • 1篇芯片
  • 1篇静电防护
  • 1篇静电放电
  • 1篇ESD

机构

  • 1篇上海交通大学

作者

  • 1篇袁琰红
  • 1篇陈力
  • 1篇高立明
  • 1篇王英杰

传媒

  • 1篇半导体光电

年份

  • 1篇2012
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
基于ESD的芯片失效分析被引量：9
2012年
提出了一种基于静电放电(ESD)的芯片可靠性测试及失效分析流程,并且以芯片静电放电测试为例详细阐述了芯片失效分析的过程与实现方法,包括电性失效分析和物理失效分析。通过专用仪器对芯片进行了静电放电测试,并利用红外微光显微镜(EMMI)及砷化镓铟微光显微镜(InGaAs)等实现芯片故障定位,从而确定芯片的失效模式与失效机理,实验证明该方法切实有效,这种失效分析的结果对优化集成电路的抗静电设计以及外部工作环境的完善都具有重要的参考意义。
袁琰红陈力王英杰高立明
关键词：静电放电显微镜静电防护
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共1页<1>
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