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文献类型

  • 1篇中文专利

主题

  • 1篇电路
  • 1篇电路可靠性
  • 1篇吻合度
  • 1篇抗老化
  • 1篇建模方法
  • 1篇PBTI

机构

  • 1篇江苏商贸职业...

作者

  • 1篇易茂祥
  • 1篇李扬
  • 1篇缪永
  • 1篇邵川
  • 1篇丁力
  • 1篇张姚

年份

  • 1篇2017
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
一种基于电荷俘获‑释放机制的电路PBTI老化建模方法
本发明公开了一种基于电荷俘获‑释放机制的电路PBTI老化建模方法,其特征在于:包括基于T‑D机制的BTI老化模型的建立、T‑D机制下的电路老化时延模型的建立、MatLab仿真实验和T‑D机制下的电路老化时延模型的验证步骤...
李扬易茂祥缪永邵川丁力张姚吴清焐
文献传递
共1页<1>
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