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张洪

作品数：1 被引量：3H指数：1
供职机构：电子科技大学光电信息学院电子薄膜与集成器件国家重点实验室更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇VIRTEX
  • 1篇测试系统
  • 1篇存储器

机构

  • 1篇电子科技大学

作者

  • 1篇阮爱武
  • 1篇张洪
  • 1篇阎哲

传媒

  • 1篇微电子学与计...

年份

  • 1篇2016
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
基于位流回读的VirtexⅡ内嵌BRAM的测试方法研究被引量：3
2016年
介绍一种采用位流回读针对VirtexⅡ内嵌BRAM的测试方法.该测试方法基于自主研发的FPGA测试平台,该测试系统能够对FPGA配置、施加测试向量、回收测试响应、并对故障进行诊断与定位,整个测试完全自动化,不需要人工干预.该测试系统的优点为设备简单、易于实现、完全自动化.在该测试系统的基础上,针对Virtex II系列FPGA内嵌核Block RAM提出了基于边界扫描和位流回读的测试方法.该方法首次将位流回读技术应用于FPGA的测试,基于位流回读的测试方法为FPGA的测试打开一个新的领域,对研究FPGA的测试方法有重要意义.
阎哲张洪介百瑞阮爱武
关键词：存储器测试系统
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