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黄晓峰

作品数:11 被引量:7H指数:2
供职机构:重庆光电技术研究所更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信理学自动化与计算机技术化学工程更多>>

文献类型

  • 8篇中文期刊文章

领域

  • 7篇电子电信
  • 1篇化学工程

主题

  • 3篇光电
  • 2篇雪崩
  • 2篇雪崩光电二极...
  • 2篇透镜
  • 2篇微透镜
  • 2篇光电二极管
  • 2篇二极管
  • 2篇INALAS
  • 2篇INP基
  • 1篇电流
  • 1篇多模
  • 1篇多模干涉
  • 1篇修饰
  • 1篇有限差分
  • 1篇入射
  • 1篇探测器
  • 1篇特性分析
  • 1篇填充因子
  • 1篇通信
  • 1篇稳定性

机构

  • 8篇重庆光电技术...
  • 1篇电子科技大学
  • 1篇清华大学
  • 1篇四川大学

作者

  • 8篇黄晓峰
  • 3篇崔大健
  • 2篇莫才平
  • 2篇高新江
  • 2篇张承
  • 2篇陈伟
  • 1篇龚敏
  • 1篇李洪涛
  • 1篇熊兵
  • 1篇甘霖
  • 1篇蔡娟露
  • 1篇郝智彪
  • 1篇汪莱
  • 1篇石瑞英
  • 1篇罗毅
  • 1篇唐龙谷
  • 1篇王健
  • 1篇孙长征
  • 1篇陈昊
  • 1篇韩彦军

传媒

  • 7篇半导体光电
  • 1篇信息记录材料

年份

  • 1篇2024
  • 2篇2023
  • 2篇2022
  • 1篇2020
  • 1篇2012
  • 1篇2009
11 条 记 录,以下是 1-8
排序方式:
级联倍增InAlAs/InAlGaAs雪崩光电二极管暗电流成分分析
2020年
实验制备了级联倍增InAlAs/InAlGaAs雪崩光电二极管,对二极管暗电流随台面直径和温度的变化进行了研究分析。结合暗电流函数模型,利用Matlab软件对暗电流的各成分进行了数值计算,并仿真研究了芯片结构的缺陷浓度Nt和表面复合速率S对暗电流的影响。结果表明,二极管暗电流主要来自于体暗电流,而非表面漏电流。在工作点偏压90V处,受缺陷影响的缺陷辅助隧穿电流Itat在暗电流中占据了主导,并推算出了芯片结构的缺陷浓度Nt约为1019 m-3、吸收区中的缺陷浓度NInGaAs约为7×1015 m-3。由于芯片结构的缺陷主要来源于InAlAs/InAlGaAs倍增区和InGaAs吸收区,而吸收区缺陷占比很少,因此认为缺陷主要来自于异质结InAlAs/InAlGaAs倍增区。
张承黄晓峰迟殿鑫唐艳王立柴松刚崔大健莫才平高新江
关键词:暗电流
InP基连续面型方形微透镜设计与制作技术研究
2023年
建立了非球面连续面型方形口径微透镜性能仿真模型,利用ZEMAX软件对10°视场、50μm周期、填充因子接近100%的磷化铟微透镜面型参数进行了优化设计。开发了衍射调制动态曝光与感应耦合等离子体刻蚀系统误差补偿方法制作出的磷化铟微透镜,其表面粗糙度小于2 nm,面型数据与设计值相比误差小于1/4工作波长,达到完善成像水平。
柳聪张为国刘锋崔大健张承黄晓峰高明友刘奎宇朱长林陈益民
关键词:填充因子粗糙度
基于多模干涉波导结构的90°光混频器设计与制作被引量:1
2023年
设计并制作了一种基于多模干涉波导(MMI)结构的InP基90°光混频器芯片,该芯片的波导层材料为InGaAsP,包层和衬底材料为InP,芯片的单模波导宽度设计为2.6μm,多模干涉波导的长度和宽度分别设计为844和20μm。采用三维光束传播法(3D BPM),仿真分析了波导材料折射率、厚度、宽度和长度的工艺误差容限,仿真结果表明在1 535~1 565 nm波长范围内所设计的光混频器芯片的净插入损耗小于1 dB,相位偏差小于±5°。实验测试结果与仿真结果一致。
陈伟崔大建黄晓峰周浪肖入彬吴维刘昆左欣王立严银林
关键词:磷化铟相干光通信
一种25 Gbit/s背入射高速InAlAs雪崩光电二极管被引量:1
2022年
设计并制备了一种面向25 Gbit/s长距离传输用背面进光高速InAlAs雪崩光电二极管(APD),芯片采用垂直台面吸收-渐变-电荷-倍增层分离(SAGCM)结构,通过刻蚀工艺形成三层台面,将电场限制在最大台面倍增层的中心,有效降低了台面边缘击穿风险。器件采用倒装焊结构,背面集成微透镜,以提高光耦合孔径。研制的APD芯片在增益M=1时,对1310 nm波长光的响应度为0.84 A/W;在M=10时,3 dB带宽达到19 GHz;增益带宽积为180 GHz;在5×10^(-5)误码率下最佳灵敏度为-22.3 dBm,可支持100GBASE-ER4通信标准。
黄晓峰陈伟董绪丰敖天宏王立唐艳张圆圆罗鸣
关键词:雪崩光电二极管INALAS微透镜
SiNx表面修饰在剥离技术中的应用
2022年
针对氮化硅表面制作的剥离胶膜底切宽度不稳定的问题,采用碱溶液处理SiNx表面,研究SiNx表面状态与剥离胶膜底切宽度的关系。结果表明SiNx表面处理后,胶膜底切宽度稳定性得到显著提高,绝对变化量1.8μm减小到0.2μm,相对变化量从177.2%降低到15.2%,制备出较好的剥离胶膜形貌,解决了InGaAs芯片批产过程中出现的电极图形剥离效果不稳定的问题。
刘海军张靖莫才平段利华闫应星黄晓峰
关键词:SINX表面处理稳定性
InP基稀释光波导特性分析
2012年
从InP基稀释光波导的基本模型出发,利用有限差分波束传播(FD-BPM)算法,推导了InP基稀释光波导的有效折射率,对其进行了数值计算;根据光传输损耗方程,分析了稀释波导传输损耗产生的原因;对稀释光波导中TE/TM模式传输进行了详细的数值分析和模拟计算,并分析了其模场分布曲线。
崔大健陈昊黄晓峰高新江
关键词:传输特性
基于Cl_2基气体的InP/InGaAs干法刻蚀研究被引量:1
2009年
对于用Cl2/Ar和Cl2/CH4/H2感应耦合等离子体(ICP)刻蚀InP/InGaAs多层膜进行了研究。发现用Cl2/Ar刻蚀InP/InGaAs时InP侧壁内切,在InP和InGaAs界面存在侧壁不连续问题。而用Cl2/CH4/H2刻蚀时,两层侧壁是平整连续的,且刻蚀区表面的粗糙度也比较小。分析了两种气体组合的刻蚀机理,对上述实验现象给出了解释。
唐龙谷田坤黄晓峰蔡娟露陈维君龚敏石瑞英
关键词:INGAASINPICP
基于DBR增强的850 nm GaAs/AlGaAs单行载流子光电探测器被引量:2
2024年
高速850 nm GaAs/AlGaAs面入射型单行载流子光电探测器(PD)是短距离光链路中的重要器件,面临着带宽和响应度之间的相互矛盾。报道了一种基于分布布拉格反射器(DBR)增强的GaAs/AlGaAs单行载流子光电探测器(UTC-PD)。DBR由20个周期的高/低Al组分的Al_(x)Ga_(1-x)As三元合金组成,可以在830~870 nm范围内形成大于0.9的反射。在AlGaAs DBR的增强下,将GaAs吸收层所需的厚度降低到1 040 nm,兼顾PD对光的吸收率和光生载流子的渡越时间。采用双台面、聚合物平面化、共面波导电极结构制作了UTC-PD器件。该器件在850 nm波长、-2 V偏压下具有19.26 GHz的-3 dB带宽和0.492 6 A/W的响应度。
王健窦志鹏李光昊黄晓峰于千郝智彪熊兵孙长征韩彦军汪莱李洪涛甘霖罗毅
关键词:GAASALGAAS光电探测器分布布拉格反射器
共1页<1>
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