您的位置: 专家智库 > >

罗晓羽

作品数:4 被引量:5H指数:1
供职机构:工业和信息化部更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 3篇标准
  • 1篇期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇电荷
  • 1篇氧化层
  • 1篇载流子
  • 1篇质谱检漏
  • 1篇热载流子
  • 1篇热载流子效应
  • 1篇密封
  • 1篇军用
  • 1篇检漏
  • 1篇氦质谱
  • 1篇氦质谱检漏

机构

  • 4篇工业和信息化...
  • 2篇西安电子科技...
  • 2篇中国航天科技...
  • 2篇中国电子科技...
  • 2篇中国电子科技...
  • 2篇勤智数码科技...
  • 2篇北京燕东微电...

作者

  • 4篇罗晓羽
  • 1篇张秋
  • 1篇黄磊
  • 1篇顾祥
  • 1篇周钦沅
  • 1篇贾新章
  • 1篇赵英
  • 1篇王宝友
  • 1篇王毅
  • 1篇张朋
  • 1篇安琪
  • 1篇李锟

传媒

  • 1篇电子产品可靠...

年份

  • 2篇2018
  • 1篇2016
  • 1篇2014
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
热载流子效应测试方法
罗晓羽贾新章姚军王晨杰游海龙黄磊王志宽张彦秀顾祥尹航李锟廖昕赖庆华
氧化层可动电荷的电容-电压测试方法
罗晓羽顾祥王金莲王晨杰张彦秀黄磊王志宽贾新章游海龙尹航李锟廖昕赖庆华
氦质谱检漏试验方法分析被引量:5
2014年
从电子元器件气密性封装的原理入手,介绍了常用的检漏试验方法,阐述了美军标MIL-STD-883氦质谱检漏试验方法的最新发展,分析了积累氦质谱试验方法的特点及要求,并探讨了基于氦气交换时间常数τHe的氦质谱检漏思路。
安琪罗晓羽
关键词:氦质谱密封
军用电子元器件产品典型参数描述指南
本指导性技术文件规定了军用电子元器件产品典型参数描述的指南。 本指导性技术文件适用于武器装备配套的电子元器件产品的典型参数描述。
王宝友罗晓羽邹超张戈田欣张景阁王毅彭伟曹林孙传灏李晓英王珏张朋陈勤赵英张玉芹陈奥吴正平周钦沅李锟曹易张秋周俊刘若冰
共1页<1>
聚类工具0