您的位置: 专家智库 > >

牟宏山

作品数:4 被引量:33H指数:3
供职机构:华北光电技术研究所更多>>
发文基金:中国电子科技集团公司创新基金更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 4篇中文期刊文章

领域

  • 4篇电子电信

主题

  • 4篇探测器
  • 4篇红外
  • 3篇焦平面
  • 3篇焦平面探测器
  • 3篇红外焦平面
  • 3篇红外焦平面探...
  • 2篇锑化铟
  • 2篇红外探测
  • 2篇红外探测器
  • 2篇INSB
  • 1篇制导
  • 1篇制导系统
  • 1篇探测器组件
  • 1篇盲元
  • 1篇可靠性
  • 1篇红外成像
  • 1篇红外成像制导
  • 1篇红外探测器组...
  • 1篇成像制导
  • 1篇成像制导系统

机构

  • 4篇华北光电技术...

作者

  • 4篇牟宏山
  • 1篇董硕
  • 1篇赵建忠
  • 1篇陈静
  • 1篇李春领
  • 1篇乔育花
  • 1篇梁进智
  • 1篇李海燕
  • 1篇李忠贺

传媒

  • 2篇红外
  • 1篇红外与毫米波...
  • 1篇激光与红外

年份

  • 1篇2020
  • 2篇2016
  • 1篇2010
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
快速制冷型红外焦平面成像制导系统设计被引量:8
2016年
红外焦平面成像技术是一种通过摄取景物热辐射分布,并将其转换为人眼可见图像的技术,广泛应用于侦察、制导、空间探测等方面.针对红外制导小体积、快速启动的应用要求,设计了快速启动红外焦平面成像制导系统.对应用于系统的折反式红外镜头、快速启动型红外焦平面探测器、低噪声成像电路等进行了设计,设计结果满足制导条件下的红外成像要求.
牟宏山陈静乔育花
关键词:红外成像制导红外焦平面探测器
InSb红外探测器组件的无输出问题研究
2020年
研究了InSb红外探测器组件的无输出问题。通过故障分析确定探测器的失效部件为InSb芯片。结合器件结构和工艺,对InSb器件的失效机理进行了研究。发现器件在去胶工艺中有光刻胶残留,在后续的钝化工艺中会生成难以腐蚀去除的沾污层,导致电极膜层存在可靠性隐患。经历高温、振动等环境试验后电极浮起,导致了探测器组件的无输出问题。
李忠贺吕梁晴李海燕牟宏山赵建忠李春领
关键词:INSB红外探测器
锑化铟红外焦平面探测器盲元失效问题的研究被引量:7
2010年
锑化铟红外焦平面探测器将要在寿命周期中于室温到77K的温度范围内工作几千次。由于不同材料的热膨胀系数不一致,热循环会造成焊点疲劳和失效,最终导致焦平面探测器失效。通过研制的温度循环设备,了解了铟焊点失效的原因,并用ANSYS软件对铟柱的机械失效现象进行了分析。通过分析铟柱高度和可靠性之间的关系,得出铟柱高度的增加可以提高探测器的可靠性。介绍了焊接可靠性的评价方法。改进后的焊接工艺可大幅提高探测器的可靠性。
牟宏山董硕梁进智
关键词:焦平面探测器盲元可靠性
InSb红外焦平面探测器现状与进展被引量:18
2016年
红外焦平面探测器技术是一种通过摄取景物热辐射分布图像,并将其转换为人眼可见图像的技术。近年来红外探测器技术发展迅速,在军事、工业、农业、医学等各领域显示出越来越重要的应用。本文对锑化铟红外焦平面探测器的应用及发展情况进行了分析,并对其发展前景进行了展望。
牟宏山
关键词:锑化铟焦平面红外探测器
共1页<1>
聚类工具0