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郑静

作品数：3 被引量：6H指数：2
供职机构：中国电子科技集团公司第43研究所更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇电路
  • 1篇腔体
  • 1篇军用
  • 1篇控制办法
  • 1篇混合集成电路
  • 1篇集成电路
  • 1篇厚膜
  • 1篇厚膜混合
  • 1篇厚膜混合集成
  • 1篇厚膜混合集成...
  • 1篇PIN
  • 1篇D试验

机构

  • 1篇中国电子科技...

作者

  • 1篇郑静

传媒

  • 1篇中国电子科学...

年份

  • 1篇2007
共 3 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
军用厚膜混合集成电路PIND试验不合格原因分析及控制方法被引量：4
2007年
在生产中解决厚膜混合集成电路颗粒碰撞噪声检测(PIND)试验的控制办法,结合PIND试验的原理,阐述了在高频下任何有可动信号的腔体都有可能造成PIND试验不合格,并给出了这种可以掩盖随机不合格信号的固定信号的不合格图像。对国内军用厚膜生产的同行在该工艺的控制上有很好的借鉴和引导作用。
郑静
关键词：腔体控制办法
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