您的位置: 专家智库 > >

王威

作品数:2 被引量:9H指数:2
供职机构:京东方科技集团股份有限公司更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 1篇电场
  • 1篇电场强度
  • 1篇液晶
  • 1篇液晶显示
  • 1篇液晶显示器
  • 1篇显示器
  • 1篇离子束
  • 1篇静电放电
  • 1篇聚焦离子束
  • 1篇工艺过程
  • 1篇薄膜晶体管
  • 1篇薄膜晶体管液...
  • 1篇TFT-LC...
  • 1篇ESD
  • 1篇场强

机构

  • 2篇京东方科技集...

作者

  • 2篇王威
  • 1篇龙春平
  • 1篇彭志龙
  • 1篇李欣欣

传媒

  • 2篇现代显示

年份

  • 1篇2007
  • 1篇2006
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
关于TFT-LCD工艺过程中ESD改善的研究被引量:5
2006年
在显示器件薄膜晶体管(thinfilmtransistor,TFT)以及半导体制造工艺过程中,各个环节都有可能产生静电放电(electrostaticdischarge,ESD)现象,引起器件性能下降,甚至破坏器件。本文结合生产工艺的实际情况,采用统计方法首先对某工艺环节的ESD现象进行定位,在此基础上结合聚焦离子束(focusionbond,FIB)等试验结果,对其机理进行认真的分析研究,从设计和工艺改善两个方面出发,提出解决方案,收到了良好的改善效果,取得巨大的经济效益。
彭志龙王威
关键词:静电放电聚焦离子束
TFT-LCD工艺与静电击穿被引量:7
2007年
薄膜晶体管液晶显示器(thinfilmtransistor-liquidcrystaldisplay,TFT-LCD)的制造工艺是一个复杂的过程,各个环节都可能发生静电击穿(electrostaticdischarge,ESD)现象,导致TFT-LCD器件被破坏,极大地影响了良品率。本文根据薄膜晶体管(TFT)生产工艺的实际情况,阐述了产线里各类产品型号的ESD发生状况。在此基础上,对各种设计、工艺过程和工艺参数对ESD造成的影响进行了分析研究,为实际的生产提供了指导作用。
李欣欣龙春平王威
关键词:薄膜晶体管液晶显示器电场强度
共1页<1>
聚类工具0