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文献类型

  • 4篇期刊文章
  • 1篇专利

领域

  • 4篇电子电信

主题

  • 2篇在片测试
  • 1篇对称型
  • 1篇压控
  • 1篇压控振荡器
  • 1篇有源集成
  • 1篇有源集成天线
  • 1篇振荡器
  • 1篇失效模式
  • 1篇天线
  • 1篇桥臂
  • 1篇桥接
  • 1篇阻抗
  • 1篇微波器件
  • 1篇微带
  • 1篇微带天线
  • 1篇校准
  • 1篇校准技术
  • 1篇离散数据
  • 1篇脉冲
  • 1篇可靠性

机构

  • 3篇中国电子科技...
  • 2篇南京电子器件...

作者

  • 5篇曹敏华
  • 2篇陈金远
  • 2篇张新焕
  • 1篇林金庭
  • 1篇王维波
  • 1篇黄念宁
  • 1篇李拂晓
  • 1篇吴振海
  • 1篇陶洪琪
  • 1篇高建峰
  • 1篇张斌
  • 1篇张斌
  • 1篇康耀辉
  • 1篇刘军霞
  • 1篇郑华
  • 1篇顾梅

传媒

  • 2篇固体电子学研...
  • 2篇电子与封装

年份

  • 4篇2012
  • 1篇2008
5 条 记 录,以下是 1-5
排序方式:
GaAs功率单片脉冲在片测试技术研究被引量:2
2012年
讨论了功率单片在片脉冲测试中在片校准技术、脉冲功率测试技术等难题,并在讨论以上问题的基础上,实现工程化应用,该测试技术能够有效覆盖至40GHz。在建立的脉冲大功率在片测试系统上对输出功率典型值5W的GaAs功率单片放大器进行测试验证,测试结果和装架测试结果相比较,输出功率误差<0.2dB。
陈金远陶洪琪曹敏华吴振海郑华高建峰张斌
关键词:在片测试
微波在片测试数据离散剔除算法研究
2012年
针对微波在片测试项目多、参数复杂、数据处理灵活性大的特点,开发了工艺控制微波数据处理软件,但该软件存在离散数据剔除难的问题。文章讨论了如何对离散数据进行剔除的几种算法:模拟EXCEL表格画图法、一致性剔除离散算法、累积均方差剔除离散法、拟合正态分布曲线算法,最终选定拟合正态分布曲线算法作为剔除离散方法。将剔除离散数据功能完善到工艺控制微波数据处理软件,将使微波在片测试数据处理最终实现自动化。
曹敏华康耀辉顾梅陈金远张新焕
关键词:在片测试离散数据
一种桥臂无错位对称型Lange桥
本发明公开一种桥臂无错位对称型Lange桥,包括第一端口平衡馈入结构、第二端口平衡馈入结构、第一桥臂耦合结构、第二桥臂耦合结构、输入端馈入网络、平衡吸收负载网络、直通端、耦合端和桥臂连接网络;所述的第一端口平衡馈入结构、...
王维波张斌黄念宁曹敏华
文献传递
振荡型有源集成天线
2008年
研制中心频率为18 GHz的振荡型有源集成天线,包括微带天线设计、单片压控振荡器(MMIC VCO)的设计及微带天线与单片压控振荡器二者的集成。微带天线的芯片面积为4.5 mm×3.5 mm,增益为3.67 dB,中心频率为18.032 GHz,最小输入驻波系数为1.098;单片压控振荡器芯片面积1.1 mm×1.0 mm,调谐范围为15.978~18.247 GHz,输出功率大于6 dBm。振荡型有源集成天线的方向图测试结果与微带天线的特性符合,该振荡型有源集成天线能够正常工作。
曹敏华李拂晓林金庭
关键词:有源集成天线微带天线压控振荡器
微波器件的可靠性及失效分析被引量:3
2012年
微波器件的可靠性直接影响整机系统的可靠性,失效分析工作可以显著提高微波器件的质量与可靠性,从而提高整机系统的质量与可靠性。同时,失效分析工作会带来很高的经济效益,对元器件的生产方和使用方都具有重要意义。微波器件失效的主要原因有两个方面:固有缺陷和使用不当,固有缺陷由生产方引起,使用不当主要由用户引起。微波器件可以分为微波分立器件、微波单片电路以及微波组件三大类,文章分别对三类微波器件的主要失效模式和失效机理做了较为全面的分析和概括。
张新焕刘军霞曹敏华
关键词:微波器件可靠性失效模式
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