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胡波

作品数：3 被引量：14H指数：2
供职机构：中国电子科技集团第二十四研究所更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 3篇电子电信

主题

  • 1篇带隙基准
  • 1篇带隙基准电压
  • 1篇带隙基准电压...
  • 1篇电路
  • 1篇电源
  • 1篇曲率补偿
  • 1篇温场
  • 1篇温度变化
  • 1篇模拟集成电路
  • 1篇可靠性
  • 1篇可靠性评估
  • 1篇混合电源
  • 1篇基准电压
  • 1篇基准电压源
  • 1篇集成电路
  • 1篇加速退化试验
  • 1篇功率器件
  • 1篇耗散功率
  • 1篇烘箱
  • 1篇高可靠

机构

  • 3篇中国电子科技...
  • 1篇西安电子科技...

作者

  • 3篇胡波
  • 2篇罗俊
  • 1篇石红
  • 1篇邢宗锋
  • 1篇曾莉
  • 1篇冯建
  • 1篇邓永芳
  • 1篇李晓红
  • 1篇邹华昌
  • 1篇廖良
  • 1篇邱忠文
  • 1篇李骏

传媒

  • 2篇微电子学
  • 1篇环境技术

年份

  • 1篇2014
  • 1篇2012
  • 1篇2007
共 3 条 记 录，以下是 1-3
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排序方式：
老化试验中温度变化问题探讨
2014年
介绍了烘箱老化环境温度受电路功率,老化板摆放位置的变化、烘箱风速变化等因素的影响导致烘箱内温场出现变化,烘箱内温场变化剧烈的会影响产品的正常老化,形成过应力的情况,严重时会造成电路失效。对影响烘箱温度的因素进行了试验监控分析,找出了影响烘箱温场的主要原因和规律,防止老化电路过温失效。
冯建胡波邢宗锋罗俊
关键词：功率器件耗散功率
高可靠DC-DC混合电源长寿命评价技术研究被引量：8
2012年
随着科学技术的发展、设计和制造水平的大幅度提高,高可靠长寿命DC-DC混合电源产品在军事及航空航天领域应用越来越广泛,如何预测其寿命是值得深入研究的重要问题。采用加速退化试验方法,对一款高可靠DC-DC混合电源进行可靠性评价与寿命预测。此研究成果对解决高可靠性电源产品的可靠性保证和寿命预测问题具有很好的工程意义。
李晓红罗俊邱忠文胡波邹华昌邓永芳
关键词：长寿命可靠性评估加速退化试验
一种实用的曲率补偿带隙基准电压源被引量：6
2007年
介绍了一种带隙基准电压源二阶曲率补偿技术及其在传统双极工艺中的实现。与传统带隙基准电压源相比，这种结构只需增加几个电阻，便可极大地改善温度特性。Hspice仿真结果表明，在-55～125℃范围内，温度系数可以减小到7ppm／℃这种结构可通过其他IC工艺实现，具有极高的实用价值。
胡波李骏廖良石红曾莉
关键词：曲率补偿带隙基准电压源模拟集成电路
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