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文献类型

  • 5篇中文专利

领域

  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 4篇梁式引线
  • 2篇双针
  • 2篇同质结
  • 2篇器件芯片
  • 2篇微波测试
  • 2篇芯片
  • 2篇墨点
  • 2篇空气桥
  • 2篇坏点
  • 1篇等效串联电阻
  • 1篇电器件
  • 1篇载流子
  • 1篇载流子注入
  • 1篇支梁
  • 1篇微波性能
  • 1篇刻蚀
  • 1篇沟槽
  • 1篇二极管
  • 1篇高深宽比
  • 1篇PIN二极管

机构

  • 5篇中国电子科技...

作者

  • 5篇李熙华
  • 4篇顾晓春
  • 2篇王霄
  • 2篇曹越
  • 1篇刘洪军
  • 1篇王佃利

年份

  • 1篇2024
  • 1篇2020
  • 2篇2018
  • 1篇2016
5 条 记 录,以下是 1-5
排序方式:
一种AlGaAs梁式引线PIN二极管及其制备方法
本发明是一种AlGaAs梁式引线PIN二极管及其制备方法,其特征在于,它是采用P<Sup>+</Sup>-Al<Sub>0.3</Sub>Ga<Sub>0.7</Sub>As/I-GaAs/N<Sup>+</Sup>-G...
李熙华顾晓春王霄
文献传递
一种3D电器件结构及其制备方法
本发明公开了一种3D电器件结构及其制备方法包括器件边界、在器件边界平面内周期性间隔阵列的若干个单元以及围在若干个单元外周的沟槽区,所述单元为基本单元或派生单元,其中基本单元为由主梁和支梁构成的“王”字型梁柱区,派生单元包...
王佃利 王钊 戚俊普 张航飞 李昊泽刘洪军 汤寅 严德圣 王启蒙李熙华 庸安明
一种AlGaAs梁式引线PIN二极管及其制备方法
本发明是一种AlGaAs梁式引线PIN二极管及其制备方法,其特征在于,它是采用P<Sup>+</Sup>‑Al<Sub>0.3</Sub>Ga<Sub>0.7</Sub>As/I‑GaAs/N<Sup>+</Sup>‑G...
李熙华顾晓春王霄
文献传递
梁式引线两端器件芯片的自动测试方法
本发明涉及一种梁式引线两端器件芯片的自动测试方法,包括:(1)测试探卡接入半导体自动测试探针台;(2)载入被测晶片,调直,设置探针台测试参数,设置加电系统测试参数;(3)ATE自动测试,处理数据,输出MAP图,获得测试B...
王钊曹越李熙华施传贵顾晓春
文献传递
梁式引线两端器件芯片的自动测试方法
本发明涉及一种梁式引线两端器件芯片的自动测试方法,包括:(1)测试探卡接入半导体自动测试探针台;(2)载入被测晶片,调直,设置探针台测试参数,设置加电系统测试参数;(3)ATE自动测试,处理数据,输出MAP图,获得测试B...
王钊曹越李熙华施传贵顾晓春
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