2025年11月14日
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李熙华
作品数:
5
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供职机构:
中国电子科技集团公司第五十五研究所
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相关领域:
自动化与计算机技术
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合作作者
顾晓春
中国电子科技集团公司第五十五研...
曹越
中国电子科技集团公司第五十五研...
王霄
中国电子科技集团公司第五十五研...
王佃利
中国电子科技集团公司第五十五研...
刘洪军
中国电子科技集团公司第五十五研...
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一种AlGaAs梁式引线PIN二极管及其制备方法
本发明是一种AlGaAs梁式引线PIN二极管及其制备方法,其特征在于,它是采用P<Sup>+</Sup>-Al<Sub>0.3</Sub>Ga<Sub>0.7</Sub>As/I-GaAs/N<Sup>+</Sup>-G...
李熙华
顾晓春
王霄
文献传递
一种3D电器件结构及其制备方法
本发明公开了一种3D电器件结构及其制备方法包括器件边界、在器件边界平面内周期性间隔阵列的若干个单元以及围在若干个单元外周的沟槽区,所述单元为基本单元或派生单元,其中基本单元为由主梁和支梁构成的“王”字型梁柱区,派生单元包...
王佃利
王钊
戚俊普
张航飞
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刘洪军
汤寅
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王启蒙
李熙华
庸安明
一种AlGaAs梁式引线PIN二极管及其制备方法
本发明是一种AlGaAs梁式引线PIN二极管及其制备方法,其特征在于,它是采用P<Sup>+</Sup>‑Al<Sub>0.3</Sub>Ga<Sub>0.7</Sub>As/I‑GaAs/N<Sup>+</Sup>‑G...
李熙华
顾晓春
王霄
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梁式引线两端器件芯片的自动测试方法
本发明涉及一种梁式引线两端器件芯片的自动测试方法,包括:(1)测试探卡接入半导体自动测试探针台;(2)载入被测晶片,调直,设置探针台测试参数,设置加电系统测试参数;(3)ATE自动测试,处理数据,输出MAP图,获得测试B...
王钊
曹越
李熙华
施传贵
顾晓春
文献传递
梁式引线两端器件芯片的自动测试方法
本发明涉及一种梁式引线两端器件芯片的自动测试方法,包括:(1)测试探卡接入半导体自动测试探针台;(2)载入被测晶片,调直,设置探针台测试参数,设置加电系统测试参数;(3)ATE自动测试,处理数据,输出MAP图,获得测试B...
王钊
曹越
李熙华
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