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文献类型

  • 19篇专利
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  • 1篇会议论文

领域

  • 4篇机械工程
  • 3篇电子电信
  • 3篇理学

主题

  • 9篇光学
  • 8篇大口径
  • 5篇全息
  • 5篇计算全息
  • 4篇起偏器
  • 4篇光学元件
  • 4篇反射率
  • 4篇干涉仪
  • 4篇不均匀性
  • 3篇条纹
  • 3篇透镜
  • 3篇透射
  • 3篇平面镜
  • 3篇平行光
  • 3篇激光
  • 3篇光学测量
  • 3篇光学测量技术
  • 3篇干涉条纹
  • 3篇波带片
  • 3篇测量技术

机构

  • 22篇中国工程物理...

作者

  • 22篇魏小红
  • 20篇何宇航
  • 18篇高波
  • 18篇徐凯源
  • 18篇刘昂
  • 18篇李强
  • 14篇柴立群
  • 6篇王凤蕊
  • 6篇石振东
  • 2篇陈波
  • 2篇李东
  • 1篇唐晓东
  • 1篇许华
  • 1篇赵智亮
  • 1篇任寰
  • 1篇李瑞洁

传媒

  • 1篇激光与光电子...
  • 1篇光电子

年份

  • 3篇2025
  • 1篇2024
  • 2篇2023
  • 3篇2022
  • 1篇2021
  • 2篇2020
  • 4篇2019
  • 1篇2018
  • 2篇2017
  • 1篇2016
  • 1篇2015
  • 1篇2010
22 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
一种基于离散小波变换的光学平板波前的降噪方法和装置
本发明公开了一种基于离散小波变换的光学平板波前的降噪方法和装置,所述方法包括对含噪波前位相W<Sub>o</Sub>进行预处理,得到扩展矩阵W;对扩展矩阵W进行二维离散小波分解,得到系数向量C<Sub>o</Sub>;基...
徐凯源柴立群刘昂何宇航陈宁李强高波魏小红万道明
文献传递
一种基于计算全息测量透镜焦距的方法
本发明公开了一种基于计算全息测量透镜焦距的方法,包括如下步骤:CGH的设计,根据透镜前后表面的曲率半径、中心厚、透镜的材质以及透镜与CGH的间距,得出CGH各环带半径参数,制作CGH;背景波前的获取,采用平面干涉仪,多次...
魏小红徐凯源何宇航万道明陈宁石振东
文献传递
基于计算全息术的长焦距透镜功率谱密度检测方法
2022年
高功率激光器的中频误差会导致自聚焦和功率损耗,但大口径长焦距非球面透镜中频波前的检测一直是一个瓶颈。本文引入计算全息术测量非球面透镜中频波前功率谱密度。借助现代光刻技术,我们研制了大口径高精度CGH,用以提供高精度的非球面参考波前,从而实现了大口径长焦距透镜中频波前功率谱密度高精度检测,且该方法可大大缩短光路、降低振动和空气扰动的影响。通过与干涉法测量结果对比,验证了计算全息法测量的准确性和方便性。此外,详细分析了计算全息法应用于非球面透镜中频波前检测的测量不确定度。理论分析和实际检测结果表明,对于焦距大于30 m、通光口径大于Φ410 mm的长焦距非球面透镜,其中频波前PSD测量不确定度RMS小于1 nm。
魏小红徐凯源刘昂
关键词:功率谱密度
一种大口径平板玻璃应力双折射面成像测量方法
本发明公开了一种大口径平板玻璃应力双折射面成像测量方法,属于光学测量技术领域,其目的在于解决现有技术中存在的玻璃应力双折射测量效率低的技术问题。包括:将待测样品、1/4波片移出测量光路,旋转起偏器找到消光位置并在附近旋转...
高波李强王凤蕊魏小红刘昂何宇航柴立群李东石振东
计算全息法测量长焦距透镜透射波前的检测装置及检测方法
本发明公开了一种计算全息法测量长焦距透镜透射波前的检测装置及检测方法,属于光学测量技术领域。其主要由干涉仪、被测长焦距透镜和菲涅尔波带片组成菲索干涉光路,干涉仪输出的准直平行光通过标准平面镜时,一束由标准平面镜参考面反射...
魏小红何宇航柴立群高波徐凯源李强刘昂
一种基于计算全息测量透镜焦距的方法
本发明公开了一种基于计算全息测量透镜焦距的方法,包括如下步骤:CGH的设计,根据透镜前后表面的曲率半径、中心厚、透镜的材质以及透镜与CGH的间距,得出CGH各环带半径参数,制作CGH;背景波前的获取,采用平面干涉仪,多次...
魏小红徐凯源何宇航万道明陈宁石振东
文献传递
大口径平板元件高透反射率及不均匀性测量装置及方法
本发明公开了一种大口径平板元件高透反射率及不均匀性测量装置及方法,属于光学测量领域中的大口径光学元器件的测量,其目的在于解决现有技术中大口径平板元件的高透反射率以及不均匀性测量误差较大的技术问题。其将用于大口径待测高透射...
高波刘昂李强何宇航万道明徐凯源王凤蕊魏小红陈宁
一种大口径平板玻璃应力双折射面成像测量方法
本发明公开了一种大口径平板玻璃应力双折射面成像测量方法,属于光学测量技术领域,其目的在于解决现有技术中存在的玻璃应力双折射测量效率低的技术问题。包括:将待测样品、1/4波片移出测量光路,旋转起偏器找到消光位置并在附近旋转...
高波李强王凤蕊魏小红刘昂何宇航柴立群李东石振东
大口径平板元件高透反射率及不均匀性测量装置及方法
本发明公开了一种大口径平板元件高透反射率及不均匀性测量装置及方法,属于光学测量领域中的大口径光学元器件的测量,其目的在于解决现有技术中大口径平板元件的高透反射率以及不均匀性测量误差较大的技术问题。其将用于大口径待测高透射...
高波刘昂李强何宇航万道明徐凯源王凤蕊魏小红陈宁
大口径倍频晶体o光e光与边缘平行度测量装置及方法
本发明公开了大口径倍频晶体o光e光与边缘平行度测量装置及方法,属于光学测量领域,本发明包括:发射器组件,用于发出一束垂直偏振光;分光镜,用于将所述垂直偏振光分为第一光束、第二光束;第一探测器,用于记录第一光束的参量;第二...
高波徐凯源万道明刘昂李强柴立群魏小红何宇航陈宁
文献传递
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