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兀伟

作品数：22 被引量：0H指数：0
供职机构：南开大学更多>>
相关领域：自动化与计算机技术电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 22篇中文专利

领域

  • 4篇自动化与计算...
  • 2篇电子电信

主题

  • 11篇偏振
  • 9篇纳米
  • 6篇光学
  • 5篇光谱
  • 5篇光谱仪
  • 4篇调控元件
  • 4篇透光
  • 4篇偏振光
  • 4篇全光
  • 4篇光学非线性
  • 4篇分光器
  • 3篇镀膜
  • 3篇微纳米加工
  • 3篇光谱测量
  • 2篇形变
  • 2篇形变过程
  • 2篇形变量
  • 2篇折射率
  • 2篇入射
  • 2篇入射光

机构

  • 22篇南开大学

作者

  • 22篇任梦昕
  • 22篇许京军
  • 22篇兀伟
  • 19篇蔡卫
  • 14篇张心正
  • 9篇皮彪
  • 7篇张迪
  • 4篇禹宣伊
  • 2篇朱鹏飞
  • 1篇曹雷

年份

  • 3篇2025
  • 1篇2024
  • 1篇2023
  • 2篇2022
  • 2篇2020
  • 2篇2019
  • 4篇2018
  • 2篇2017
  • 2篇2016
  • 3篇2015
共 22 条 记 录，以下是 1-10
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排序方式：
一种微结构阵列光学应变传感器设计及其制造方法
本发明公开了一种基于微结构阵列的光学应变传感器设计及制造方法，首先在弹性体基底材料表面进行镀膜，利用微纳米加工方法在基底材料上制备具有光谱特征峰的微结构阵列；将制备好的器件固定在被测样品表面，利用光谱仪测量样品在形变前后...
兀伟任梦昕皮彪蔡卫张心正许京军
文献传递
一种基于堆叠莫尔超构表面的非线性光束整形方法
本发明涉及超构表面技术领域，具体公开了一种基于堆叠莫尔超构表面的非线性光束整形方法，包括：获取基频光的倍频波长和非线性光束的目标发射角；计算得到堆叠莫尔超构表面的莫尔晶格准周期；计算得到堆叠莫尔超构表面的晶格周期和扭曲角...
任梦昕屈伦李晨阳兀伟许京军
确定材料二阶非线性极化率的系统及方法
本申请涉及一种确定材料二阶非线性极化率的系统及方法。确定材料二阶非线性极化率的系统包括激光光源、偏振调制器、光线收集器、偏振探测器和控制器。所述控制器可以根据所述测试数据得出所述待测试样品的二阶非线性极化率。所述确定材料...
任梦昕马军军陈嘉鑫兀伟蔡卫许京军
文献传递
一种分光器以及采用该分光器的分光方法
本发明公开了一种分光器以及采用该分光器的分光方法。该分光器包括：一透光基底；设置于该透光基底表面的多个周期性的第一微结构单元，所述第一微结构单元包括多个沿X方向平行且间隔设置的第一微纳米柱，所述多个第一微纳米柱的高度相同...
张迪任梦昕兀伟 高宁慧禹宣伊蔡卫张心正许京军
光学非线性偏振调控元件以及调控入射光波偏振的方法
本发明涉及一种光学非线性偏振调控元件，其中，其包括：一绝缘透明基底；一设置于该绝缘透明基底的一表面的金属等离子激元层，所述等离子激元层包括多个周期设置的具有手性的微结构；以及一设置于该金属等离子激元层远离该绝缘透明基底的...
任梦昕兀伟皮彪蔡卫张心正许京军
文献传递
一种光学薄膜折射率与厚度的测量方法及系统
本发明涉及光学薄膜折射率及厚度测量技术领域，尤其涉及一种光学薄膜折射率与厚度的测量方法及系统，方法包括如下步骤：光源形成线偏振光并分解为两束正交偏振光，分别作为信号光及参考光；信号光入射至样品臂，经过待测薄膜样品后，形成...
任梦昕朱鹏飞张迪兀伟许京军
红外测量方法、装置、计算机设备和存储介质
本申请涉及一种红外测量方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：检测待测场景下的和频光在不同偏振基的投影的强度信息；所述和频光为红外信号光和泵浦光发生和频过程产生的和频光；根据所述和频光在不同偏振基...
任梦昕兀伟朱章航张迪蔡卫许京军
光学非线性偏振调控元件以及调控入射光波偏振的方法
本发明涉及一种光学非线性偏振调控元件，其中，其包括：一绝缘透明基底；一设置于该绝缘透明基底的一表面的金属等离子激元层，所述等离子激元层包括多个周期设置的具有手性的微结构；以及一设置于该金属等离子激元层远离该绝缘透明基底的...
任梦昕兀伟皮彪蔡卫张心正许京军
文献传递
一种光学薄膜折射率与厚度的测量方法及系统
本发明涉及光学薄膜折射率及厚度测量技术领域，尤其涉及一种光学薄膜折射率与厚度的测量方法及系统，方法包括如下步骤：光源形成线偏振光并分解为两束正交偏振光，分别作为信号光及参考光；信号光入射至样品臂，经过待测薄膜样品后，形成...
任梦昕朱鹏飞张迪兀伟许京军
一种微结构阵列光学位移传感器的制造方法及其用于检测微小位移的方法
本发明公开了一种微结构阵列光学位移传感器的制造方法及其用于检测微小位移的方法，所述方法包括：首先在基底材料表面进行镀膜，利用微纳米加工方法在基底材料上制备具有光谱特征峰的微结构阵列；将具有微结构阵列的基底固定于被测样品表...
兀伟任梦昕皮彪蔡卫张心正许京军
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