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文献类型

  • 2篇中文专利

主题

  • 2篇缺陷检测系统
  • 2篇涡流
  • 2篇涡流效应
  • 2篇金属
  • 2篇金属表面
  • 1篇电路
  • 1篇线圈
  • 1篇漏磁
  • 1篇漏磁检测
  • 1篇检测线圈
  • 1篇功率放大
  • 1篇功率放大电路
  • 1篇方波
  • 1篇方波信号
  • 1篇放大电路
  • 1篇峰值保持
  • 1篇采样
  • 1篇采样速度

机构

  • 2篇北京华航无线...

作者

  • 2篇许振丰
  • 2篇郑莉
  • 2篇高雯
  • 2篇熊鑫
  • 2篇庞旭林

年份

  • 1篇2018
  • 1篇2015
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
一种金属表面缺陷检测系统及其检测方法
本发明公开了一种金属表面缺陷检测系统及其检测方法,通过控制器产生方波信号以及发送给信号处理电路的控制信号;功率放大电路激发激励线圈在被测金属表面产生涡流效应;将差动线圈探头中的第一检测线圈和第二检测线圈产生感应信号通过信...
熊鑫许振丰郑莉庞旭林高雯
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一种金属表面缺陷检测系统及其检测方法
本发明公开了一种金属表面缺陷检测系统及其检测方法,通过控制器产生方波信号以及发送给信号处理电路的控制信号;功率放大电路激发激励线圈在被测金属表面产生涡流效应;将差动线圈探头中的第一检测线圈和第二检测线圈产生感应信号通过信...
熊鑫许振丰郑莉庞旭林高雯
文献传递
共1页<1>
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