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张捷

作品数：1 被引量：1H指数：1
供职机构：昆明物理研究所更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇锑化铟
  • 1篇全自动
  • 1篇微机控制
  • 1篇霍耳效应
  • 1篇半导体
  • 1篇测试系统

机构

  • 1篇昆明物理研究...
  • 1篇汕头大学

作者

  • 1篇陈仲甘
  • 1篇陈晓屏
  • 1篇王兰
  • 1篇张捷

传媒

  • 1篇红外技术

年份

  • 1篇1992
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
锑化铟锭条的全自动霍耳效应测试系统被引量：1
1992年
为了解决InSb锭条霍耳效应的测试任务‘研制出一套微机控制的全自动测试系统,可对各种截面形状的半导体锭条进行无破坏性的霍耳效应测量。本系统包括一台HP-85型计算机和705型扫描器、220型恒流源以及195型数字多用表,一个自制的多功能测试单元。本文叙述了系统的测量原理,分析了系统中各部分仪器和机构的连接配合控制及其具有的功能,介绍了抗干扰问题的解决方法并进行了误差分析。进行了大量的室温下的测量,并与本征理论值比较,证明系统的测量精度与误差分析是相一致的。此系统大大提高了InSb锭条的测量速度和精度,是研究InSb材料(包括其他半导体材料)十分有用的工具。
陈仲甘陈晓屏王兰姜烈汉张捷
关键词：微机控制霍耳效应
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共1页<1>
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