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李搏

作品数：2 被引量：0H指数：0
供职机构：中国科学院半导体研究所更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇中文专利

主题

  • 2篇图像
  • 2篇图像处理
  • 2篇芯片
  • 1篇图像处理器
  • 1篇图像传感器
  • 1篇图像获取
  • 1篇平面镜
  • 1篇平面镜成像
  • 1篇缺陷检测系统
  • 1篇芯片封装
  • 1篇镜头
  • 1篇架构
  • 1篇封装
  • 1篇感器
  • 1篇并行处理
  • 1篇处理器
  • 1篇传感
  • 1篇传感器

机构

  • 2篇中国科学院

作者

  • 2篇吴南健
  • 2篇刘剑
  • 2篇杨杰
  • 2篇杨永兴
  • 2篇李搏

年份

  • 2篇2015
共 2 条 记 录，以下是 1-2
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排序方式：
一种芯片封装外观缺陷检测系统及方法
本发明公开了一种产品封装外观缺陷检测系统及方法。所述系统包括图像获取模块，采集被检测的产品封装外观图像；多层次并行处理架构，其包括：二维全并行处理单元阵列，包括多个像素处理单元，用于并行处理产品封装外观图像，对其进行低级...
李搏吴南健刘剑杨永兴杨杰
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一种芯片外观缺陷检测系统
本发明公开了一种芯片外观缺陷检测系统，其包括：平台，其上放置被检测芯片；光源，用于提供芯片成像所需的光；平面镜，其位于被检测芯片的上方，用于将光源提供的光投射至被检测芯片，并将经被检测芯片反射后的光原路返回；镜头，其位于...
李搏吴南健刘剑杨永兴杨杰
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