张万生
- 作品数：18 被引量：18H指数：2
- 供职机构：中国电子科技集团第十三研究所更多>>
- 相关领域：电子电信电气工程经济管理更多>>
- 功率型LED的进展
- 本文从新型芯片结构设计以及封装工艺两方面对如何提高可见光功率型LED器件的取光效率和光电转换效率的问题进行了详细讨论.
- 张万生布良基
- 关键词：功率型LED芯片结构光电转换效率
- 文献传递
- 白光LED色温漂移的研究
- 色温是白光LED色参数的重要指标之一，色温漂移问题一直是白光LED研究的重点。针对白光LED色温漂移问题，参考美国ASSIST和美国能源之星(ENERGY STAR)两家相关色温漂移的失效判据标准，根据荧光粉的光色参数，...
- 赵敏张万生
- 关键词：白光LED荧光粉胶体
- 文献传递
- 具有良好热通路的三基色多芯片功率发光管
- 本实用新型公开了一种具有良好热通路的三基色多芯片功率发光管，包括三基色发光管芯片、特种金属环、环状陶瓷壳体、电极、引线、带螺栓的铜底座、光学胶，其中环状陶瓷壳体通过特种金属环对准烧结在带螺栓的铜底座上，三基色发光管芯片粘...
- 张万生
- 文献传递
- LED组件寿命评估方法的研究
- 2011年
- 由于LED技术的飞速发展,其应用产品不断扩大到人们生活的各个方面,因此LED产品的可靠性问题也日益受到人们的关注。在可靠性工程常用的寿命分布中,指数分布是应用广泛的一种分布,进入偶然失效期以后都可以认为产品失效分布是指数分布。LED产品的寿命试验有定时截尾和定数截尾2种方式,由于定数结尾需要较长的试验时间,因此采用定时截尾的试验方法来获取试验数据。给出了LED组件的寿命评估方法,该方法对LED模块和应用产品同样适用。
- 安国雨赵敏张万生
- 关键词：平均寿命定时截尾试验
- LED加速寿命试验方法的研究被引量：6
- 2009年
- 给出了一种缩短试验时间求取LED平均寿命的方法,利用"亚玛卡西"的发光管光功率缓慢退化公式。由退化系数求得不同应力温度下LED失效时间,再用数值解析法得到正常温度应力下的LED平均寿命。
- 赵敏张万生徐立生
- 关键词：LED
- LED器件的质量评定方法
- 2012年
- 本文提出了一种LED器件质量的评定方法,将电光转换效率和光功率保持率引入表征LED器件质量的关键参数;以芯片尺寸和电流密度来规范评定LED器件质量的测试条件;为了剔除早期失效的器件,给出了筛选方法;最后,介绍了与可靠性相关的LED器件耐久性试验。
- 赵敏张万生
- 关键词：LED器件耐久性试验
- 白光LED色温漂移的研究
- 色温是白光LED色参数的重要指标之一,色温漂移问题一直是白光LED研究的重点。针对白光LED色温漂移问题,参考美国ASSIST和美国能源之星(ENERGY STAR)两家相关色温漂移的失效判据标准,根据荧光粉的光色参数,...
- 赵敏张万生
- 关键词：白光LED荧光粉胶体
- 文献传递
- 用于功率型LED筛选的瞬态热特性
- 2006年
- 本文采用NC2993型二极管热阻测试仪对功率LED的热特性进行筛选，文中所用的器件为中国电子科技集团第十三研究所研制的F008型白光功率LED，为便于与红外热像仪进行验证．最后用蓝光倒装芯片未灌封的功零器件给出实验的对比结果。
- 赵敏张万生
- 关键词：功率型LED热特性功率LED红外热像仪F008电子科技
- 白光功率LED的加速寿命试验被引量：1
- 2007年
- 本文按照阿伦尼斯模型给出的公式，采用温度作为恒定加速应力，用中国电子科技集团第十三研究所研制的F008型白光功率LED给出了165℃、175℃、185℃的加速寿命的试验数据，推算出25℃下失效判据50％时的期望寿命为8.11×10^4小时，25℃下失效判据70％时的期望寿命为4．17×10^4小时，并以此为例，给出一种通过功率LED加速寿命试验来推算实温期望寿命的方法，这种方法还可用于其它单色功率LED。
- 赵敏张万生徐立生
- 关键词：加速寿命试验功率LED白光失效判据F008电子科技
- 测量功率LED热阻的新型仪器
- 本文主要对正向电压法和用于测量热阻的NC2992型半导体器件可靠性分析仪简介作一介绍,并给出了F002型功率LED热阻测试结果.
- 闫伟陈凤霞吴洪江张万生
- 关键词：半导体照明可靠性分析热阻测试发光二极管
- 文献传递
