2025年11月22日
星期六
|
欢迎来到三亚市图书馆•公共文化服务平台
登录
|
注册
|
进入后台
[
APP下载]
[
APP下载]
扫一扫,既下载
全民阅读
职业技能
专家智库
参考咨询
您的位置:
专家智库
>
>
唐杰
作品数:
37
被引量:0
H指数:0
供职机构:
江苏永鼎股份有限公司
更多>>
相关领域:
自动化与计算机技术
电子电信
一般工业技术
电气工程
更多>>
合作作者
周莉
江苏永鼎股份有限公司
张国栋
江苏永鼎股份有限公司
沈锋
江苏永鼎股份有限公司
陈钢
江苏永鼎股份有限公司
李凡
江苏永鼎股份有限公司
作品列表
供职机构
相关作者
所获基金
研究领域
题名
作者
机构
关键词
文摘
任意字段
作者
题名
机构
关键词
文摘
任意字段
在结果中检索
文献类型
37篇
中文专利
领域
6篇
自动化与计算...
2篇
电子电信
1篇
电气工程
1篇
一般工业技术
主题
20篇
芯片
7篇
刻蚀
6篇
刻蚀工艺
5篇
芯片生产
5篇
光缆
4篇
图像
4篇
芯片检测
4篇
芯片检测技术
4篇
VCSEL
3篇
电缆
3篇
寻优
3篇
半导体
2篇
新能源发电
2篇
信号
2篇
行程开关
2篇
需求信息
2篇
巡检
2篇
异常信号
2篇
预警
2篇
预警系统
机构
37篇
江苏永鼎股份...
作者
37篇
唐杰
13篇
周莉
8篇
张国栋
4篇
陈钢
4篇
沈锋
2篇
李凡
1篇
张建军
年份
1篇
2025
16篇
2024
8篇
2023
2篇
2022
1篇
2021
4篇
2020
3篇
2019
2篇
2010
共
37
条 记 录,以下是 1-10
全选
清除
导出
排序方式:
相关度排序
被引量排序
时效排序
一种芯片的刻蚀工艺优化方法及系统
本发明公开了一种芯片的刻蚀工艺优化方法及系统,涉及芯片制作技术领域,该方法包括:获取对目标芯片的刻蚀工艺参数进行优化的刻蚀条件;构建湿法刻蚀工艺参数调整域,构建刻蚀优化函数;分别进行目标芯片的模拟湿法刻蚀,并获取模拟刻蚀...
周莉
唐杰
顾志强
一种加强型直埋光缆
本发明属于线缆领域,尤其是涉及一种加强型直埋光缆,由缆芯、内护层、铠装层和外护层构成,其特征在于:所述缆芯由六根通信单元和一根中心加强件构成,同一横截面内,中心加强件呈正六边形,通信单元由松套管和多根光通信部件构成,松套...
莫思铭
朱天文
姚腾飞
尚明明
唐杰
一种线缆卷收设备
本实用新型公开了一种线缆卷收设备,包括机架、收线盘,机架上滑动安装有滑移支架,滑移支架上安装有第一滑轮,机架尾部一侧固定有第二滑轮,第一滑轮相对于第二滑轮之间的距离动态可调,其中线缆在第一滑轮和第二滑轮上至少绕线一圈且线...
唐杰
李海成
一种芯片表面缺陷检测方法及系统
本发明涉及芯片检测技术领域,具体公开了一种芯片表面缺陷检测方法及系统,包括以下步骤:获取采用X射线检测获取目标区域的芯片灰度图像,获取目标区域芯片灰度图像中像素点的点灰度值;对每个像素点的灰度值进行灰度映射增强得到点映射...
周莉
唐杰
胡世棋
杨陈浩
顾志强
芯片封装工艺缺陷快速检测方法
本发明涉及缺陷检测技术领域,提供一种芯片封装工艺缺陷快速检测方法,包括:目标特征分析确定检测定位特征,对多检测目标进行精度分析,获得多级检测要求,结合缺陷特征搭建多层级识别结构;采集封装芯片图像,基于定位特征进行区域定位...
张国栋
苗东川
唐杰
一种多维仿真的VCSEL芯片故障点预警系统
本申请提供了一种多维仿真的VCSEL芯片故障点预警系统,涉及半导体激光器技术领域,包括:芯片结构获取模块,用于获取目标VCSEL芯片的芯片结构信息;有限元分析模块,用于生成有限元仿真模型;失效模式采集模块,用于采集芯片失...
莫思铭
朱天文
姚腾飞
唐杰
一种线缆吹干器
本实用新型涉及线缆生产技术领域,涉及一种线缆吹干器。本实用新型具有结构简单、合理、使用方便等优点,通过将线缆穿设在哈夫模的线槽内,采用凹槽上的吹气部件对线缆进行吹气,可以快速、充分的对线缆进行干燥,同时上下模之间通过定位...
马春平
唐杰
李海成
程帆
一种加强型直埋光缆
本发明属于线缆领域,尤其是涉及一种加强型直埋光缆,由缆芯、内护层、铠装层和外护层构成,其特征在于:所述缆芯由六根通信单元和一根中心加强件构成,同一横截面内,中心加强件呈正六边形,通信单元由松套管和多根光通信部件构成,松套...
莫思铭
朱天文
姚腾飞
尚明明
唐杰
塑料电线电缆挤压式挤出模具
本实用新型公开了一种塑料电线电缆挤压式挤出模具,包括模芯(1)和套设在模芯外侧的模套(2),所述模套(2)与模芯(1)配合注塑挤压成型,其特征在于所述模套(2)与模芯(1)间设置挤压间隙(3)。该模具挤出的塑胶层结构紧密...
唐杰
陈钢
文献传递
芯片封装工艺缺陷快速检测方法
本发明涉及缺陷检测技术领域,提供一种芯片封装工艺缺陷快速检测方法,包括:目标特征分析确定检测定位特征,对多检测目标进行精度分析,获得多级检测要求,结合缺陷特征搭建多层级识别结构;采集封装芯片图像,基于定位特征进行区域定位...
张国栋
苗东川
唐杰
全选
清除
导出
共4页
<
1
2
3
4
>
聚类工具
0
执行
隐藏
清空
用户登录
用户反馈
标题:
*标题长度不超过50
邮箱:
*
反馈意见:
反馈意见字数长度不超过255
验证码:
看不清楚?点击换一张