您的位置： 专家智库 > >

苗巍

作品数：3 被引量：0H指数：0
供职机构：清华大学更多>>
相关领域：核科学技术电子电信金属学及工艺更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇专利
  • 1篇会议论文

领域

  • 1篇金属学及工艺
  • 1篇电子电信
  • 1篇核科学技术

主题

  • 2篇电路
  • 2篇电路测试
  • 2篇电路设计
  • 2篇电路设计技术
  • 2篇应用电路
  • 2篇向量
  • 2篇测试向量
  • 1篇冗余
  • 1篇实验平台设计
  • 1篇芯片
  • 1篇芯片应用
  • 1篇功率器件
  • 1篇故障预测
  • 1篇查找表

机构

  • 3篇清华大学

作者

  • 3篇王红
  • 3篇杨士元
  • 3篇苗巍
  • 2篇张双悦
  • 1篇李硕

年份

  • 1篇2017
  • 2篇2014
共 3 条 记 录，以下是 1-3
全选 清除 导出
排序方式：
功率器件故障预测实验平台设计
介绍功率器件加速老化及故障预测实验平台的搭建方案.分析了进行功率循环、热循环、负载变化等功率器件加速老化实验所需的实验条件和要求.介绍实验平台搭建的整体框架,软件、硬件部分的组成实现.该实验平台可以在线监测器件电压Vce...
吴冀平李硕苗巍王红杨士元
关键词：功率器件故障预测
一种现场可编程门阵列芯片应用电路的测试方法
本发明涉及一种现场可编程门阵列芯片应用电路的测试方法，属于电路设计技术领域。对于电路中的两个直接相连的查找表单元，若两个查找表单元满足特定的条件，则可以在保证电路逻辑功能正确的情况下，对前查找表单元添加后向冗余线或对后查...
张双悦王红杨士元苗巍
文献传递
一种现场可编程门阵列芯片应用电路的测试方法
本发明涉及一种现场可编程门阵列芯片应用电路的测试方法，属于电路设计技术领域。对于电路中的两个直接相连的查找表单元，若两个查找表单元满足特定的条件，则可以在保证电路逻辑功能正确的情况下，对前查找表单元添加后向冗余线或对后查...
张双悦王红杨士元苗巍
全选 清除 导出
共1页<1>
聚类工具0