张安康
- 作品数：8 被引量：6H指数：2
- 供职机构：东南大学更多>>
- 相关领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>
- 1／f噪声源及MOS器件中的1／f噪声
- 1996年
- １／ｆ噪声，由于其反映了器件的质量、可靠性等参数，其研究越来越为人们所重视。本文首先较为系统地介绍了１／ｆ噪声源两种较为成熟的理论：载流子数涨落和迁移率涨落模型，最后将研究ＭＯＳ晶体管中１／ｆ噪声的现象。在ｎ管中，较为成功地用△Ｎ模型；而在ＰＭＯＳ晶体管中。
- 文俊陈良栋张安康郑茳
- 关键词：MOS器件
- VLSI中互连失效及其微测试结构
- 1996年
- 本文叙述了VLSI中众多互连失效,分析了失效原因及其对器件性能的影响,介绍了检测接触电阴、互连中电迁移的测试结构,讨论了微测试技术的测试结果.
- 张安康
- 关键词：可靠性VLSI
- 多功能程控闪光Bi-CMOS集成电路
- 1993年
- 引言 随着人们生活水平和审美观念的提高,美化城市,美化家庭乃至个人的装饰已日益受到人们的重视。同时随着市场和商品经济的发达,不夜城的兴起,广告业的发展,这些都需要提供一种专门用于灯光控制和装饰的专用集成电路.根据市场这一预测。
- 谢世健单振才张安康江鸿徐征
- 关键词：铋CMOS集成电路灯光控制
- 监测CMOSIC关键失效的微电子测试结构
- 1996年
- 介绍了ＣＭＯＳＩＣ的静电放电微电子测试结构，叙述了双极－ＭＯＳ兼容的闭锁效应和闭锁滞后现象的微电子测试结构，并对测试结果进行了讨论。
- 张安康
- 关键词：集成电路可靠性电路测试微电子CMOS
- 功率模块可靠性被引量：2
- 1999年
- 本文叙述了功率模块可靠性的基本概念，介绍了功率模块的可靠性设计，总结了焊接式和压接式功率模块常见的失效模式和失效机理。
- 叶建明张安康
- 关键词：功率模块可靠性失效模式
- 扩展电阻法测量亚微米器件的结深和杂质分布被引量：2
- 1998年
- 本文介绍了亚微米器件结深和杂质分布的测量方法，叙述了扩展电阻法测量结深的原理。
- 张安康李文渊王健华陈明华
- 关键词：结深扩展电阻VLSI亚微米器件
- CMOS闭锁效应的几种失效及其检测
- 1996年
- 本文叙述了闭锁(latch up)效应与温度的关系,讨论了瞬态闭锁效应的临界电荷模型,分析了结尖峰引起的局部闭锁效应,介绍了双极MOS兼容电路的闭锁效应以及相应的检测技术.
- 张安康
- 关键词：CMOS
- VCD、DVD技术与发展被引量：2
- 1998年
- 本文介绍了ＶＣＤ、ＤＶＤ的有关技术及规格，并将之作了比较，据此，分析了ＶＣＤ、ＤＶＤ产品在我国市场的发展前景。
- 李文渊张安康
- 关键词：VCDDVD数据压缩活动图象伴音
