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文献类型

  • 3篇期刊文章
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领域

  • 3篇电子电信

主题

  • 2篇电路
  • 2篇整数
  • 2篇集成电路
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  • 2篇并行性
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  • 1篇信号完整性
  • 1篇性能分析
  • 1篇性能研究
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  • 1篇射频
  • 1篇时域测量
  • 1篇数据存取
  • 1篇频域测量
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  • 1篇现场可编程门...
  • 1篇向量
  • 1篇向量加法
  • 1篇门阵列

机构

  • 5篇中国电子科技...

作者

  • 5篇李华
  • 2篇于宗光
  • 2篇屈凌翔
  • 2篇藏鑫
  • 2篇张庆文
  • 2篇江鹏
  • 2篇王亚强

传媒

  • 2篇通信电源技术
  • 1篇移动信息

年份

  • 3篇2025
  • 1篇2015
  • 1篇2012
5 条 记 录,以下是 1-5
排序方式:
一种基4FFT算法的并行处理装置及方法
本发明提供一种基4FFT算法的并行处理装置及方法,其包括:指令存储单元、指令读取和发射单元、整数指令流水线、SIMD指令流水线、存取指令流水线。基4FFT算法运算包括向量加法操作、复数乘法操作和数据存取操作。本发明利用S...
李华于宗光张庆文屈凌翔王亚强江鹏藏鑫
文献传递
一种基4FFT算法的并行处理装置及方法
本发明提供一种基4FFT算法的并行处理装置及方法,其包括:指令存储单元、指令读取和发射单元、整数指令流水线、SIMD指令流水线、存取指令流水线。基4FFT算法运算包括向量加法操作、复数乘法操作和数据存取操作。本发明利用S...
李华于宗光张庆文屈凌翔王亚强江鹏藏鑫
文献传递
基于FPGA的集成电路测试方法研究
2025年
为提升集成电路测试的覆盖率和精度,提出基于现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,FPGA)的集成电路测试方法。首先介绍FPGA的结构与优势,其次详细描述基于FPGA的测试系统的硬件和软件架构,最后系统化地阐述集成电路测试流程,包括被测器件(Device Under Test,DUT)与FPGA的连接、测试向量生成、测试执行过程以及测试结果的分析与验证。测试结果表明,设计方法可以高效执行功能测试和故障检测,提升了测试的精度和覆盖率,适用于大规模集成电路的验证。
李华曹晓斌
关键词:集成电路
基于射频测试技术的RF集成电路性能研究
2025年
射频集成电路是现代无线通信系统的核心,主要负责信号的处理与传输,其性能直接影响系统的稳定性.射频测试技术通过精确测量增益、S参数、噪声系数等指标,评估集成电路的性能.文中基于射频测试技术,详细分析了RF集成电路的性能测试方法,涵盖非线性行为深度解析、S参数多维提取、增益压缩实时建模及多维噪声抑制优化等关键环节,并通过实验对比传统方法验证了该测试技术的有效性.
李华沈丹丹
关键词:性能分析
高速集成电路的信号完整性测试方法
2025年
系统地阐述了高速集成电路中信号完整性的测试方法及其应用。首先,针对高频信号的衰减机制、非线性失真、设计规则及动态串扰等问题进行深入分析;其次,详细介绍信号完整性测试方法,包括时域测试、频域测试及混合域测试;再次,提出完整的信号完整性测试流程,包括测试准备、测试方法设计以及如何根据测试结果进行优化;最后,通过优化前后的对比分析,展示了优化策略在实际测试中的效果,可有效提升电路的信号完整性。
李华曹晓斌
关键词:高速集成电路信号完整性时域测量频域测量
共1页<1>
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