吴迪
- 作品数：40 被引量：62H指数：4
- 供职机构：空军航空大学更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金国家科技重大专项更多>>
- 相关领域：自动化与计算机技术文化科学航空宇航科学技术电子电信更多>>
- 基于OpenCV视觉库的ESPI图像增强技术研究被引量：12
- 2013年
- 针对ESPI条纹图像富含散斑噪声的特点,提出了一种有效的ESPI图像增强技术。阐述了ESPI测量的原理,基于OpenCV开源计算机视觉库,采用偏微分方程的图像滤波方法,离散化PM扩散模型进行滤波处理,并使用灰度直方图均衡化方法提高ESPI条纹图像对比度,最终得到利于相位计算的清晰ESPI条纹图像。提出采用保真度与对比度对ESPI条纹图像增强的量化评估方法,原理分析和实验表明该方法有效降低散斑噪声并保留条纹的边缘信息,提高散斑图像的对比度,具有较强的实用性。
- 代雷吴迪张健
- 关键词：OPENCVESPI图像增强偏微分方程
- 飞行人员的安全心理培养研究被引量：3
- 2015年
- 培养飞行人员安全心理,全面提高飞行人员的心理素质,对于提高空军战斗力有非常重要的作用。本文分析了安全心理与飞行安全的关系,探讨了影响飞行安全的主要心理因素,最后对如何培养飞行人员的安全心理提出了改进措施。
- 张凤晶吴迪赵曼
- 关键词：安全心理心理素质飞行安全
- 匹配点位置差曲面拟合双阈值剔除方法
- 一种匹配点位置差曲面拟合双阈值剔除方法，属于航空图像处理技术领域。本发明的目的是利用拟合后的曲面对各匹配点进行剔点的匹配点位置差曲面拟合双阈值剔除方法。本发明利用待配准多光谱图像匹配点叠加在基准图像上得到的匹配点位置距离...
- 孙文邦李铜哨岳广吴迪于光顾子侣
- 航拍胶片注释信息自动解译算法研究
- 2012年
- 航拍胶片注释信息记录着航拍过程中飞机的姿态参数及相机的工作参数,其正确解译对后期的图像处理尤为重要。本文介绍了航拍胶片注释信息解译的主要步骤,包括注释信息块的定位、阈值分割、标识符分割和标识符解译,重点研究了字符的阈值分割处理方法,提出了基于CASDA与Niblack相结合的阈值分割算法。实验表明,本文算法具有较好的可操作性和适应性,能够有效地对航拍胶片注释信息进行自动解译。
- 王志强程红梁勇吴迪
- 关键词：阈值分割解译
- 基于单幅面阵倾斜图像目标顶点和底点两点测高方法
- 一种基于单幅面阵倾斜图像目标顶点和底点两点测高方法，属于航空图像处理技术领域。本发明利用目标在倾斜图像中顶点和底点之间像点位移，通过建立摄影构像方程用于测量图像中目标顶点和底点的基于单幅面阵倾斜图像目标顶点和底点两点测高...
- 孙文邦吴迪于光白新伟尤金凤陈健
- Relief-F筛选波段的植被伪装揭露研究被引量：1
- 2022年
- 为了快速揭露植被伪装,基于Relief-F算法进行了高光谱波段选择,将高光谱研究问题转化为多光谱应用问题。首先以常见植物云杉模拟植被伪装目标,利用HH2地物光谱仪采集实验数据,然后引入Relief-F算法筛选特征波段子集,与其它两种常用算法得到的波段子集进行了分类实验。结果表明,使用Relief-F算法筛选特征波段子集分类精度达96.4%,高于其它两种算法。该研究对于揭露植被伪装问题是有帮助的。
- 金椿柏杨桄雷岩吴迪刘文婧
- 关键词：光谱学波段选择
- 基于三维直方图聚类特性的非监督图像变化检测方法被引量：2
- 2012年
- 针对图像非监督变化检测算法进行了研究,提出了一种新的检测方法.基于差异图像的三维直方图聚类特性,利用改进的一维最大熵寻找三维直方图最佳的平面阈值和平面方向;由其共同确定三维直方图的最佳划分平面,将三维直方图划分成变化聚类和非变化聚类;再根据三维直方图聚类划分结果完成差异图像的变化检测.理论分析和实验结果表明,该方法相对传统检测方法具有更好的检测性能.
- 孙文邦唐海燕陈贺新吴迪
- 关键词：变化检测三维直方图聚类特性
- 关于课程思政建设的基本思考与建议
- 新形势下课程思政概念的提出,极大拓展了高校思政教育的渠道,逐步达成思政课程和课程思政共育人才的共识,已经取得了非常显著的成效。然而,当前高校课程思政建设还存在一些不容忽视的问题。因此,本文首先全面分析了高校课程思政建设总...
- 孙文邦于光白新伟吴迪
- 基于面阵倾斜图像目标顶点、像底点和距离测高方法
- 一种基于面阵倾斜图像目标顶点、像底点和距离测高方法，属于航空图像处理技术领域。本发明利用待测量图像和垂直参考图像中目标顶点、像底点之间的空间关系，提出基于面阵倾斜图像目标顶点、像底点和距离测高方法。本发明根据图像的位置，...
- 孙文邦于光白新伟吴迪尤金凤陈健
- 精磨光学元件面形的干涉检测技术研究被引量：8
- 2015年
- 为解决传统接触式检测方法检测精磨光学元件效率低,精度差的问题,提出了一种采用干涉检测技术对精磨光学元件面形进行测量方法,该方法具有非接触,测量效率高,误差小的特点。干涉检测中干涉条纹的对比度与工作波长成正比,与表面粗糙度成反比,干涉条纹对比度直接影响最终的检测结果。因此首先分析干涉条纹对比度与精磨表面粗糙度之间的关系,证明采用可见光干涉仪对精磨粗糙表面进行检测的可行性,并对利用GPI型数字干涉仪检测精磨粗糙表面进行了实验验证,检测面形结果约为PV 1.5μm,并与红外干涉仪以及接触式轮廓仪测量结果进行了对比,验证结果有效性。最后给出了当粗糙度阈值Rq优于150 nm时,可采用该方法进行检测,具有较高的实用价值。
- 代雷吴迪张健张春雷于长淞谷勇强
- 关键词：光学元件
