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苏彬
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供职机构:
东北微电子研究所
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合作作者
栗学忠
东北微电子研究所
刘珊珊
东北微电子研究所
张磊
东北微电子研究所
薛宏
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16位微处理器L80C186-10测试技术研究
2005年
L80C186-10是一款高度集成的16位微处理器,本文主要对L80C186-10内部各主要功能块的测试做了详细论述。
苏彬
张磊
刘珊珊
关键词:
测试技术
高度集成
功能块
微处理机实时时钟电路测试技术
本文简要叙述了LC58167、LC58274等一类微处理机实时时钟电路的主要功能,并重点介绍了应用几种编程技巧测试此类器件的关键技术.
栗学忠
薛宏
苏彬
关键词:
实时时钟
测试程序
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微处理机
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测试技术
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