杨叔寅
- 作品数：4 被引量：2H指数：1
- 供职机构：合肥工业大学计算机与信息学院更多>>
- 发文基金：国家教育部博士点基金国家自然科学基金安徽高校省级自然科学研究基金更多>>
- 相关领域：自动化与计算机技术电子电信更多>>
- 基于内建自测的软错误与老化在线检测被引量：1
- 2012年
- 负偏置温度不稳定性为主的老化会造成时序违规故障及软错误故障。为此,提出软错误与老化在线检测器(SEAOS)。在器件正常工作的情况下,在线检测上述2种故障。复用并发内建逻辑块观察器,使得硬件开销不超过30%。实验结果表明,在0.18μm工艺尺寸下,与经典检测结构相比,SEAOS有较好的检测能力,且硬件开销较少。
- 杨叔寅秦晨飞黄正峰梁华国
- 关键词：复用
- SoC可靠性设计中的若干关键问题研究
- 随着超大规模集成电路(VLSI)进入超深亚微米时代，系统芯片(SoC)工艺尺寸不断缩减，集成度同时快速增长。而物理极限的逼近致使SoC对各种失效机理的敏感度增强。随着MOS晶体管尺寸的急剧减小，栅氧化层厚度下降至2nm甚...
- 杨叔寅
- 关键词：集成电路系统芯片
- 文献传递
- 基于功能复用的抗老化BIST设计
- 2013年
- 随着不断缩小的工艺尺寸,NBTI为主导的老化因素对VLSI器件寿命的影响尤为突出。本文针对老化引起的时序违规提出了一种抗老化的结构设计TFM-CBILBO,在一种BIST结构——并发内建逻辑块观察器的基础上,复用了其中原本不工作的时序单元,根据电路老化程度切换工作模式,有效防止时序违规的发生。在UMC0.18μm工艺下的实验结果表明,TFM-CBILBO面积开销为20.53%~3.21%,相比非时序拆借方案时延开销降低40.0%～71.6%。
- 梁华国黄正峰杨叔寅徐辉秦晨飞李志杰
- 关键词：功能复用
- 一种基于时序拆借的抗老化BIST设计
- 随着不断缩小的工艺尺寸，以NBTI为主导的老化因素对VLSI器件寿命的影响尤为突出。针对老化引起的时序违规，提出一种抗老化的结构设计：TFM-CBILBO。在一种BIST结构——并发内建逻辑块观察器的基础上，复用其中原本...
- 杨叔寅梁华国黄正峰徐辉秦晨飞
- 关键词：CMOS集成电路电路设计
