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邱邃宇

作品数：1 被引量：2H指数：1
供职机构：清华大学附属中学更多>>
相关领域：理学更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇理学

主题

  • 1篇电阻率
  • 1篇银薄膜

机构

  • 1篇北京科技大学
  • 1篇清华大学附属...

作者

  • 1篇于明鹏
  • 1篇邱邃宇
  • 1篇邱宏

传媒

  • 1篇科技创新导报

年份

  • 1篇2010
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
探针压力对四探针法测量银薄膜电阻率的影响被引量：2
2010年
本文用四探针法测量了220纳米厚的银薄膜的电阻率,研究了探针压力对银薄膜电阻率的影响。结果表明:随着探针压力从1.47牛顿增大到4.41牛顿,银薄膜的电阻率略微增大,最大探针压力时的电阻率比最小探针压力时的电阻率大约增加了7%。
邱邃宇于明鹏邱宏
关键词：银薄膜电阻率
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