程伟东
- 作品数：2 被引量：5H指数：2
- 供职机构：中国科学院高能物理研究所更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金黑龙江省自然科学基金更多>>
- 相关领域：理学一般工业技术更多>>
- 利用小角X射线散射技术研究组分对聚酰亚胺/Al_2O_3杂化薄膜界面特性与分形特征的影响被引量：3
- 2011年
- 采用溶胶-凝胶方法制备无机纳米杂化聚酰亚胺(PI),应用同步辐射小角X射线散射(SAXS)方法研究不同组分杂化PI薄膜的界面特性与分形特征.研究结果表明散射曲线不遵守Porod定理,形成负偏离,说明薄膜中有机相与Al2O3纳米颗粒间存在界面层,界面层厚度在0.54nm到1.48nm范围内;随无机纳米组分增加,界面层厚度增加,有机相与无机相作用变强;无机纳米颗粒同时具有质量分形和表面分形特征,其分布、集结是一种非线性动力学过程;随组分增加,其质量分形维数降低,表面分形维数升高,即纳米颗粒结构变疏松、质量分布变得不均匀,有机高分子链对无机纳米颗粒锚定作用加强且锚点数增加,表面变得更加粗糙.最后,利用逾渗理论与介质的电极化理论,结合杂化PI界面特性,解析了组分对杂化薄膜击穿场强的影响.
- 刘晓旭殷景华程伟东卜文斌范勇吴忠华
- 关键词：小角X射线散射纳米杂化聚酰亚胺
- Al_2O_3/PI薄膜纳米颗粒形态的SAXS研究被引量：2
- 2009年
- 聚酰亚胺(PI)/无机纳米杂化材料具有良好的电绝缘性、优异的机械性能以及高耐热等特性,广泛地应用于电气电子领域。本文利用同步辐射小角X射线散射(SAXS)技术对聚酰亚胺纳米杂化薄膜(Al2O3/PI)进行微观结构分析,结合透射电子显微镜(TEM)测试的结果,研究了杂化薄膜中无机纳米颗粒的特性。研究结果表明,无机纳米颗粒尺寸约为4–7nm,纳米颗粒与基体之间具有明锐的界面,薄膜体系分形维数为2.48。
- 刘晓旭殷景华闫凯程伟东吴忠华
- 关键词：小角X射线散射纳米杂化聚酰亚胺分形
