陈火军
- 作品数：3 被引量：7H指数：1
- 供职机构：同济大学电子与信息工程学院计算机科学与技术系更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金更多>>
- 相关领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>
- VLSI电路短路和开路故障模型研究进展被引量：6
- 2005年
- 本文概述了近十年来VLSI电路的短路和开路缺陷及其故障建模的研究进展。本文将VLSI电路短路缺陷分为逻辑门内部的短路和逻辑门之间的互连短路两大类,重点介绍了栅氧短路和桥接故障模型。相应地,文中将 VLSI电路的开路缺陷分为逻辑门内部的开路和逻辑门之间的互连开路两大类,重点介绍了逻辑门内部的网络断开、浮栅和互连开路的故障模型。文中还讨论了故障模型与测试的关系。分析结果表明,目前已有的短路和开路故障模型还不够完善,特别需要研究故障机制对电路中其它节点动态行为的依赖性和对噪声的敏感性。
- 陈火军江建慧
- 关键词：超大规模集成电路VLSI浮栅短路故障开路故障电路版图
- 门级故障到寄存器传输级故障的映射被引量：1
- 2004年
- 以一组 74系列集成电路产品和ISCAS85基准电路为例 ,研究了基本寄存器传输级 (RTL)元件的门级单故障到RTL故障的映射关系 .结果表明 :①对大多数电路来说 ,仅考虑电路的单个原始输出端出错将无法达到所希望的门级故障覆盖率 ;②RTL电路的实现不宜包含异或门、与或非门 (AOI)和或与非门 (OAI) ;③在选择差错模型时 ,不同功能的RTL电路需要同时考虑的差错数是不相同的 ,功能相同但仅局部逻辑结构有差别的RTL电路可以考虑相同数目的差错 .这些结论为研究超大规模集成电路的测试、容错设计与验证 ,以及基于故障注入的系统性能评估等技术提供重要依据 .
- 陈火军江建慧
- 关键词：超大规模集成电路
- VLSI电路短路和开路故障模型研究进展
- 本文概述了近十年来VLSI电路的短路和开路缺陷及其故障建模的研究进展。本文将 VLSI电路短路缺陷分为逻辑门内部的短路和逻辑门之间的互连短路两大类,重点介绍了栅氧短路和桥接故障模型。相应地,文中将VLSI电路的开路缺陷分...
- 陈火军江建慧
- 关键词：VLSI电路桥接浮栅
