蔡志匡
- 作品数：267 被引量：43H指数：3
- 供职机构：南京邮电大学更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金江苏省自然科学基金安徽省高校省级自然科学研究项目更多>>
- 相关领域：自动化与计算机技术电子电信文化科学电气工程更多>>
- 统计静态时序分析方法综述被引量：1
- 2023年
- 随着纳米技术的进步,工艺参数波动给电路性能带来的不确定性愈发明显,成为影响集成电路设计的主要因素之一。为了对先进工艺下超大规模集成电路更准确地进行时序分析,现代计算机辅助设计工具通过概率分布来表征电路的时序行为,并提出了统计静态时序分析(Statistical static timing analysis,SSTA)的方法。为了提高SSTA的速度,各种各样的方法及模型被陆续提出来。本文对快速蒙特卡洛仿真法、离散数值法、查找表法、解析法这四类SSTA的加速方法展开研究并对其性能进行分析,介绍了SSTA最新的研究方向并对各种时序分析方法进行总结展望。
- 郭静静赵东敏蔡志匡
- 关键词：解析法
- 一种可控的Chiplet串行测试电路
- 本发明公开一种可控的Chiplet串行测试电路，属于半导体器件在制造或处理过程中的测试或测量的技术领域。该测试电路包括主控测试模块、从控测试模块、时钟控制模块、输出模块，主控测试模块由测试访问端口模块、段插入位模块、测试...
- 蔡志匡王运波宋健周国鹏姚佳飞徐彬彬王恒鹭王子轩郭宇锋
- 文献传递
- 一种用于低电压下的50%占空比整形电路
- 本发明涉及一种用于低电压下的50%占空比整形电路，利用脉宽调节电路和占空比检测电路，将正弦信号转化为占空比稳定为50%的方波。占空比检测电路和脉宽调节电路形成的负反馈环路将输出占空比锁定为50％。在保证信号正常转化的前提...
- 王子轩邵陆钦蔡志匡刘璐谢祖帅郭静静
- 一种DC-DC转换器的过零检测电路及过零检测方法
- 本发明公开了一种DC‑DC转换器的过零检测电路及过零检测方法，该电路包括过零检测比较电路、采样保持与电平移位电路、电压差值量化积分电路；过零检测比较电路通过比较电感电压和电源地判断电感电流是否过零并输出过零检测信号，采样...
- 蔡志匡王燕燕谢祖帅张文旭王子轩郭静静刘璐
- 一种基于局部间断Galerkin方法的IC互连线电容提取策略被引量：1
- 2024年
- 求解椭圆方程的局部间断Galerkin(LDG)方法具有精度高、并行效率高的优点,且能适用于各种网格。文章提出采用LDG方法来求解IC版图中电势分布函数满足的Laplace方程,从而给出了一个提取互连线电容的新方法。该问题的求解区域需要在矩形区域内部去掉数量不等的导体区域,在这种特殊的计算区域上,通过数值测试验证了LDG方法能达到理论的收敛阶。随着芯片制造工艺的发展,导体尺寸和间距也越来越小,给数值模拟带来新的问题。文章采用倍增网格剖分方法,大幅减小了计算单元数。对包含不同数量和形状导体的七个电路版图,用新方法提取互连线电容,得到的结果与商业工具给出的结果非常接近,表明了新方法的有效性。
- 朱洪强邵如梦赵郑豪杨航汤谨溥蔡志匡
- 关键词：寄生参数提取集成电路工艺
- 用于MIV故障测试的内建自测试电路及MIV故障测试方法
- 本发明公开了一种用于MIV故障测试的内建自测试电路及MIV故障测试方法，该电路用于在测试模式下检测单片三维集成电路底层与顶层之间的待测MIV阵列，包括测试控制器、地址解码模块、向量发生器、数据传送装置、故障诊断模块和故障...
- 蔡志匡嵇苏宁雷鸣飞杨大智刘小婷严大鹏刘璐郭宇锋
- 一种2．5D Chiplet绑定后测试电路
- 本发明公开一种2.5D Chiplet绑定后测试电路，属于半导体器件在制造或处理过程中的测试或测量的技术领域。该绑定后测试电路包括中介层专用TAP控制器、中介层测试接口电路和芯粒测试输出控制电路。中介层专用TAP控制器新...
- 蔡志匡周国鹏宋健王运波谢祖帅王子轩郭宇锋
- 一种基于机器学习的众工艺角延迟预测方法被引量：1
- 2024年
- 在不同工艺角下,关键路径呈现显著差异,因此需要进行大量的静态时序分析,从而导致时序分析运行时间较长。与此同时,随着工艺尺寸的缩小,静态时序分析的精度问题变得不容忽视。本文提出一种基于机器学习的适用于众工艺角下的延迟预测方法,考虑工艺、电压和温度对时序的影响,利用基于自注意力Transformer模型对关键路径进行全局聚合编码,预测众工艺角下关键路径的统计延迟。在EPFL基准电路下进行验证,结果表明该方法的平均绝对误差范围为5.8%~9.4%,有良好的预测性能,可以提高时序分析的准确度和效率,进而缩短数字电路设计周期和设计成本。
- 郭静静宁雪洁蔡志匡
- 一种三维集成电路硅通孔的故障修复方法及系统
- 本发明公开了一种三维集成电路硅通孔的故障修复方法及系统，该方法首先建立由n×n个开关单元组成的开关矩阵，然后与n×n个硅通孔和n个冗余硅通孔连接，组成硅通孔修复电路，在定位故障硅通孔的位置后，将故障硅通孔作为起点，冗余硅...
- 蔡志匡杨大智雷鸣飞嵇苏宁刘小婷严大鹏朱刚毅王子轩郭宇锋
- 基于自适应March算法的可重构MBIST方法
- 本发明公开基于自适应March算法的可重构MBIST方法，属于半导体器件在制造或处理过程中的测试或测量的技术领域。提出自适应March算法并基于该算法提出一种可重构MBIST电路，根据外部环境和用户指令自动重构出不同算法...
- 蔡志匡余昊杰杨航谢祖帅姚佳飞王子轩郭宇锋
