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沈培福

作品数:5 被引量:2H指数:1
供职机构:中国科学院计算技术研究所更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信电气工程自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 2篇专利
  • 1篇期刊文章
  • 1篇学位论文
  • 1篇会议论文

领域

  • 2篇电子电信
  • 1篇电气工程
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 2篇电路
  • 2篇调度
  • 2篇实施管理
  • 2篇自动管理
  • 2篇网络
  • 2篇网络处理
  • 2篇网络处理器
  • 2篇无线
  • 2篇无线传感
  • 2篇无线传感器
  • 2篇无线传感器网
  • 2篇无线传感器网...
  • 2篇无线传感器网...
  • 2篇进程调度
  • 2篇进程管理
  • 2篇集成电路
  • 2篇感器
  • 2篇处理器
  • 2篇传感
  • 2篇传感器

机构

  • 4篇中国科学院
  • 2篇北京师范大学

作者

  • 5篇沈培福
  • 2篇李华伟
  • 2篇徐勇军
  • 2篇李晓维
  • 2篇刘领一
  • 2篇吕涛

传媒

  • 1篇计算机工程与...
  • 1篇第三届中国测...

年份

  • 1篇2008
  • 2篇2006
  • 1篇2005
  • 1篇2004
5 条 记 录,以下是 1-5
排序方式:
针对线间串扰现象的静态定时分析
超深亚微米工艺下,线间串扰是导致电路故障的主要的原因之一。尽管可能导致故障的线间串扰的数量是巨大的,但真正会引起故障的线间串扰却相对较少。因此,如果能在对电路验证或测试前进行静态定时分析,找出那些导致电路故障的线间串扰,...
沈培福李华伟
关键词:串扰时延测试
文献传递
考虑串扰效应的时延测试生成
随着集成电路工艺的发展,芯片的集成度越来越高,工作频率越来越快,相邻信号线之间的噪声相对越来越大,由此引起的信号完整性问题已成为影响集成电路系统的功能及性能的重要因素。各种各样的噪声中,相邻信号之间的耦合效应,即串扰,会...
沈培福
关键词:集成电路串扰
文献传递
针对线间串扰现象的静态定时分析被引量:2
2005年
超深亚微米工艺下,线间串扰是导致电路故障的主要原因之一。尽管可能导致故障的线间串扰的数量巨大,但真正会引起故障的线间串扰却相对较少。因此,如果能在对电路验证或测试前进行静态定时分析,找出那些导致电路故障的线间串扰,则可以有效提高测试生成效率,并降低测试成本。基于此目的,文章在静态定时分析中引入对线间串扰现象的分析,在线时延模型的基础上使用重叠跳变对故障模型,只需要求出与最长通路的重叠跳变对即可。在对 ISCAS'89基准电路的实验中,各电路需要测试的串扰数平均减少至 10%以下。相对于已发表的实验结果,本文的实验结果具有较高的CPU效率。
沈培福李华伟
关键词:集成电路超深亚微米工艺
无线传感器网络处理器片内进程管理方法
本发明涉及无线传感器网络技术领域,特别是一种无线传感器网络处理器片内进程管理方法。本发明系统的构建一种低功耗的片内的进程管理方法,并有效的把它应用在实际的传感器节点系统中,最大限度的降低节点功耗,并且可供用户灵活的使用。...
刘领一沈培福吕涛徐勇军李晓维
文献传递
无线传感器网络处理器片内进程管理方法
本发明涉及无线传感器网络技术领域,特别是一种无线传感器网络处理器片内进程管理方法。本发明系统的构建一种低功耗的片内的进程管理方法,并有效的把它应用在实际的传感器节点系统中,最大限度的降低节点功耗,并且可供用户灵活的使用。...
刘领一沈培福吕涛徐勇军李晓维
文献传递
共1页<1>
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