您的位置: 专家智库 > >

吕威

作品数:3 被引量:1H指数:1
供职机构:中国科学院物理研究所更多>>
发文基金:国家自然科学基金国家重点基础研究发展计划更多>>
相关领域:电子电信理学更多>>

文献类型

  • 2篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 2篇电子电信
  • 1篇理学

主题

  • 3篇量子阱结构
  • 3篇INGAN/...
  • 3篇弛豫
  • 2篇应变弛豫
  • 2篇晶格
  • 2篇超晶格
  • 1篇射线衍射
  • 1篇失配
  • 1篇透射电子显微...
  • 1篇物理性能
  • 1篇晶格结构
  • 1篇发光
  • 1篇发光性
  • 1篇发光性能
  • 1篇X射线衍射
  • 1篇超晶格结构

机构

  • 3篇中国科学院

作者

  • 3篇张泽
  • 3篇吕威
  • 3篇李超荣

传媒

  • 2篇电子显微学报

年份

  • 1篇2005
  • 2篇2004
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
InGaN/GaN量子阱结构的应变弛豫临界厚度、行为以及对物理性能的影响
2004年
李超荣吕威张泽
关键词:超晶格结构应变弛豫透射电子显微镜X射线衍射
InGaN/GaN量子阱结构的应变弛豫临界厚度、行为以及对物理性能的影响
量子阱或超品格的应变弛豫发生的临界厚度问题是关系到器件设计、材料制备的基本问题,虽然从理论上已提出了多种计算模型,但不同的模型所计算出的结果差别很大,且不同的模型所使用的范围尚不确定,因此激发了从实验上予以研究的要
李超荣吕威张泽
关键词:量子阱结构应变弛豫INGAN/GAN物理性能
文献传递
InGaN/GaN量子阱结构的应变状态与微结构、物理性能关系的研究被引量:1
2005年
应变普遍存在于失配系统中,包括晶格、热膨胀系数以及扩散系数等失配,其状态即应变是否弛豫及弛豫程度与物理性能密切相关。量子阱或超晶格的晶格应变弛豫发生的临界厚度问题是关系到器件设计、材料制备的基本问题,虽然从理论上已提出了多种计算模型,但不同的模型所计算出的结果差别很大,且不同的模型所使用的范围尚不确定。这就激发了从实验上予以研究的要求。另外,含N的III V族究竟适用何种模型尚无定论,且对其弛豫行为以及对性能的影响缺乏细致的研究。本文应用高分辨X射线衍射和透射电子显微技术研究了InGaN GaN量子阱结构的应变弛豫临界厚度、行为以及对物理性能的影响。得出InGaN GaN量子阱结构的应变弛豫临界厚度更适合基于介稳外延半导体结构应变弛豫的Fischer模型;失配位错为纯刃型位错,可通过滑移面的改变而形成穿透位错;弛豫发生后,非常明显地影响发光性能,尤其是室温下的发光性能。
李超荣吕威张泽
关键词:INGAN/GAN量子阱结构失配发光性能弛豫超晶格
共1页<1>
聚类工具0