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胡岳风

作品数:3 被引量:0H指数:0
供职机构:中国科学院国家天文台更多>>
相关领域:理学电子电信机械工程更多>>

文献类型

  • 2篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 1篇机械工程
  • 1篇电子电信
  • 1篇理学

主题

  • 2篇双折射滤光器
  • 1篇多通道
  • 1篇折射率
  • 1篇双折射
  • 1篇双折射晶体
  • 1篇双折射率
  • 1篇太阳
  • 1篇偏振
  • 1篇偏振器
  • 1篇纵向磁场
  • 1篇晶体厚度
  • 1篇光程
  • 1篇光程差
  • 1篇光谱
  • 1篇光谱仪
  • 1篇白光
  • 1篇测量仪

机构

  • 3篇中国科学院国...
  • 1篇中国科学院南...

作者

  • 3篇艾国祥
  • 3篇胡岳风
  • 1篇李京
  • 1篇韩峰
  • 1篇明长荣
  • 1篇张洪起

传媒

  • 1篇科学通报
  • 1篇仪器仪表学报
  • 1篇中国天文学会...

年份

  • 2篇1985
  • 1篇1984
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
多通道双折射滤光器
太阳物理光学仪器的发展史有两大类型分支,一为一条窄缝的很宽范围的同时光谱像,另一为视面光源的一个单色像,或数个不同时的单色像。综合上述两类仪器的优缺点,作者应用了组合偏振棱镜,发展了一种新型仪器——多通道双折射滤光器系统...
艾国祥胡岳风
关键词:双折射滤光器光谱仪
高精度双折射晶体定轴测厚仪
1984年
一、前言为研制透过带为0.12~0.15(?)窄带双折射滤光器,要求双折射晶片的光程差的偏差小于1/200波长,晶体光轴定向误差小于2′。而以往用常规仪器测定,厚度偏差只能达到1/50波长,定向误差约5′。为此,我们研制了高精度双折射晶体定轴测厚仪。本仪器用来测量晶体厚度、晶轴的方位角及晶体材料的双折射率(μ值)。测厚精度达1/(1000)波长,定轴精度优于1′,μ值可定准到5×10-5,测试数据稳定可靠。二、仪器的测量原理及精度1.晶体测厚原理及精度在两平行或正交的偏振片之间,放一片双折射晶体b(图1),其晶轴躺在通光面上,且与偏振轴成45°夹角。光束通过双折射晶体后,o 光和e 光之间有光程差σ为:
杨还胡岳风艾国祥
关键词:双折射晶体双折射滤光器光程差双折射率晶体厚度偏振器
白光太阳纵向磁场测量仪的初步实验
1985年
一测量仪研制的需要和可能性 根据Kitt Peak天文台Fourier变换光谱仪的测量结果,发现宽带光谱区,即白光,存在剩余圆偏振,这是由于谱线中的Stokes参数V的不对称造成的,紫翼的强度和面积大于红翼。
胡岳风艾国祥李威韩峰明长荣李京张洪起刘建中王瑞兰艾贻民
关键词:纵向磁场测量仪
共1页<1>
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