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李元盛

作品数：3 被引量：1H指数：1
供职机构：广州市地下铁道总公司更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇专利
  • 1篇期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇单片
  • 1篇单片机
  • 1篇地铁
  • 1篇地铁屏蔽门
  • 1篇地铁屏蔽门系...
  • 1篇电路
  • 1篇引脚
  • 1篇三极管
  • 1篇提示音
  • 1篇通信接口
  • 1篇图像
  • 1篇图像识别
  • 1篇屏蔽门系统
  • 1篇门开关
  • 1篇接口
  • 1篇警报
  • 1篇开关
  • 1篇集成电路
  • 1篇键合
  • 1篇键合点

机构

  • 3篇广州市地下铁...

作者

  • 3篇李元盛
  • 1篇陈少鹏
  • 1篇陈智华
  • 1篇李天明
  • 1篇李晓威
  • 1篇陈威
  • 1篇金文涛

传媒

  • 1篇科技创新导报

年份

  • 1篇2014
  • 2篇2013
共 3 条 记 录，以下是 1-3
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排序方式：
一种非易失性存储器测试装置及其测试方法
本发明提供了一种非易失性存储器测试装置及其测试方法，所述测试装置包括通信接口、单片机、地址锁存器，单片机包括第一数据引脚和第二数据引脚，地址锁存器包括输入端和输出端，地址锁存器的输入端与第一数据引脚连接，地址锁存器的输出...
金文涛夏耀天陈智华林惠汉游高祥李天明陈威李晓威崔佐明李元盛
文献传递
屏蔽门开关门提示音系统
本实用新型公开了一种屏蔽门开关门提示音系统，包括有连接配合的集成控制单元和报警单元，所述集成控制单元包括有封装成型的信号触发模块、同步驱动模块和电源模块，其中：信号触发模块，分别与屏蔽门系统和同步驱动模块连接，用以接收屏...
陈少鹏梁成儒李元盛
文献传递
浅析用图像识别的方法检测集成电路的键合点被引量：1
2013年
于大规模的集成电路其制造工艺中,键合点以及键合区的检验为保障可靠性的一个非常重要的环节,由于各个键合点的好坏,能够直接影响至整体的集成电路的可靠性,因此,在实际的生产工艺中,必须对键合点以及键合区的尺寸、形状以及位置等实施检测,以此保障整个芯片电其连接更可靠。
李元盛
关键词：集成电路
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共1页<1>
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