孔令华
- 作品数：5 被引量：8H指数：2
- 供职机构：中国电子科技集团第十四研究所更多>>
- 相关领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>
- 微波组件测试系统安全性策略
- 2022年
- 微波组件测试系统具有自动控制、自动采集、数据处理等功能,可实现组件的高效率、高精度、多通道、全指标测量,是微波组件批量生产的重要模式。在测试系统的研制和使用过程中,存在一些常发故障,影响了测试系统的推广使用。本文系统重点阐述了测试系统的安全性设计原则、常见故障分类,并提出了相应安全性策略,进而提出了测试系统软、硬件的改进措施,并结合实际案例验证了改进措施的有效性。
- 孔令华陈兆国徐欣欢
- 关键词：微波组件测试系统
- 微波组件筛选中防凝露与烘干问题的研究
- 2025年
- 分析了相对湿度、露点等因素对温度循环筛选过程中凝露生成情况的影响,对已有的防凝露措施在温度循环筛选中的适用性进行验证,并对凝露产生后的烘干方法及其烘干效果进行了研究,提出了提高微波组件烘干效率的有效措施。结果表明,凝露产生于筛选环节的升、降温过程中,降温阶段微波组件内部产生凝露,升温阶段微波组件外表面产生凝露。微波组件内部产生凝露后,密闭腔体内的水汽较难与外界形成交换,湿空气无法及时排出,导致微波组件较难烘干。因此,当无法提高烘干温度时,可通过增强微波组件内的空气流动性来有效提升烘干效率,这为微波组件筛选防凝露及提高烘干效率提供了参考依据。
- 孔令华王雪冬蒋庆磊杨磊
- 关键词：微波组件凝露
- 电子组件温度循环中的凝露问题研究被引量：1
- 2024年
- 详细地介绍了湿度、露点、呼吸效应等因素及其对凝露现象产生的作用机理。结合某型电子组件的温循试验过程,探讨温循过程中凝露产生的环节和根本原因,并提出了相应的解决措施。结果表明,凝露问题存在于温循过程中,升温阶段组件外表面产生凝露,降温阶段则在组件内部产生凝露。产生凝露现象的根源在于,高湿的空气环境造成较小的凝露温差,温差变化范围很小就会产生凝露现象。通过降低空气相对湿度、减缓降温速率的措施,可有效避免凝露问题的发生。
- 王雪冬孔令华蒋庆磊
- 关键词：电子组件温度循环试验相对湿度凝露
- LDMOS功率器件在T/R组件中工程化应用研究被引量：5
- 2013年
- LDMOS微波功率器件与Si双极器件相比具有输出功率大、效率高、带宽宽等特点,在军用雷达电子系统中的广泛应用也是大势所趋,与其传统应用的区别是射频脉冲工作及饱和区工作。为了实现LDMOS的大规模工程化应用,必须通过调试解决LDMOS在C类或AB类工作条件下的一致性问题,电路设计时带外抑制信号增益,通过减小感应电动势提高器件使用可靠性等设计手段实现该器件的雷达工程应用。
- 陈兆国郑艺媛孔令华徐欣欢何伟
- 关键词：静态工作点幅相一致性感应电动势
- 边界扫描技术在某雷达控制模块测试中的应用被引量：2
- 2022年
- 介绍了边界扫描测试技术的应用,实现对雷达控制模块的自动化测试和故障自动化诊断判故分析。其工作原理是通过在雷达控制模块中组建集成测试系统,采用虚拟探针代替物理探针,测试数据同物理数据比对采用边界扫描技术模拟相关模块性能指标。解决了模块化高密度系统集成电路的可测试性设计与测试诊断,使其高速数字器件、接口(含VPX、光网、串口及网络)和电源达到适配自动监测、数据采集,通过边界数据库解决测试中器件数字电路逻辑运算、信号显示、故障隔离,为雷达控制模块高密度数字电路提供新的测试工艺。该技术具有一定的实用性,极大提高了模块测试的准确性。
- 袁坤邓威钟华萍孔令华
- 关键词：边界扫描测试技术JTAG
