刘建军
- 作品数：11 被引量：0H指数：0
- 供职机构：集美大学信息工程学院更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金湖南省国际科技合作项目广西壮族自治区自然科学基金更多>>
- 相关领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>
- 一种新型改进矢量产生器设计研究
- 2009年
- 利用LFSR与CSR结合,对产生的测试矢量进行过滤,使测试矢量数达到最少,从而降低测试过程中的测试功耗.以ISCSA85实验结果表明,该方案能够改善测试矢量之间的线性相关性,大量减少测试矢量之间的跳变,达到降低功耗的目的.重点介绍了改进型矢量产生器的方法和数据结果分析.
- 谈恩民乐小春刘建军
- 关键词：内建自测试线性反馈移位寄存器低功耗
- 基于折叠集合的确定模式BIST的低功耗设计
- 2008年
- 提出了一种确定模式BIST的低功耗设计方案,它是在基于折叠计数器的基础上,采用LFSR编码折叠计数器种子,并通过选定的存储折叠距离来控制确定的测试模式生成,使得产生的测试矢量之间实现单跳变。由于是在确定测试矢量基础上进行的研究,而没有改变原来的测试矢量,因而故障覆盖率不会改变,这样既保证了高故障覆盖率又解决不同种子所生成的测试模式之间的重叠、冗余。研究结果表明该方案不仅具有很好的数据压缩率,而且证明了该方案的有效性。
- 谈恩民梁晓琳刘建军
- 关键词：低功耗设计
- 数字集成电路测试中测试矢量的生成
- 2007年
- 电路的日益复杂和集成度的不断提高，测试已成为集成电路设计中费用最高、难度最大的一个环节。本文主要讨论了测试中伪随机测试矢量的生成，并提出了改进其周期的办法，从而能大大提高故障的覆盖率。最后通过硬件描述语言Verilog在QuartusⅡ软件下进行仿真，验证了其正确性。
- 刘伟刘建军
- 关键词：集成电路测试测试矢量集成电路设计硬件描述语言伪随机
- 基于确定模式的伪单跳变测试矢量生成技术
- 2010年
- 提出了一种基于确定模式的伪单跳变测试矢量生成方法,它是在折叠计数器确定模式的基础上,采用LFSR编码折叠计数器种子,通过选定的存储折叠距离来控制测试模式,使得产生的测试矢量之间实现伪单跳变。由于是在确定模式基础上进行的研究,没有改变原来的测试矢量,所以故障覆盖率不会改变,却大大降低了测试功耗。这样既保证了高故障覆盖率,又解决了不同种子所生成的测试矢量之间的重叠冗余。研究结果不仅表明该方案具有很好的数据压缩率,而且证明了该方案的有效性。
- 刘建军李铁军邹立明
- 关键词：低功耗设计种子
- 一种新型低峰值功耗的BIST设计研究
- 随着手持设备的兴起和芯片对晶片测试越来越高的要求,内建自测试的功耗问题引起了越来越多人的关注。本文对目前内建自测试的可测性设计技术进行了分析,并提出了折叠种子优化降低节点峰值功耗模型。通过调整种子结构和测试向量的相关性的...
- 刘建军刘伟康跃明
- 关键词：内建自测试可测性设计片上系统
- 文献传递
- 基于动态覆盖率提高门槛值的种子计算方法
- 2008年
- 为了向可重复播种的LFSR结构提供种子,提出一种基于动态覆盖率提高门槛值(Dynamic Coverage Im-provement Threshold,DCIT)的种子计算方法.使用该方法计算得到的种子进行重复播种,能够截断对提高故障覆盖率效率低的测试码序列.每个种子可以得到长度固定的伪随机测试序列.以ISCAS85基准电路实验结果表明,该方案能够在不降低故障覆盖率的前提下,减少测试矢量长度、缩短测试时间和降低测试功耗.
- 谈恩民钱文武刘建军
- 关键词：种子
- 基于LFSR重复播种种子计算方法的初步研究
- 2008年
- 提出了一种新的基于线性反馈移位寄存器(LFSR)重复播种种子的计算方法.该方法计算得到LFSR重复播种中使用到的种子,重复播种后能够截断对故障覆盖率效率底的测试序列,每个种子得到长度可变的伪随机测试序列.对ISCSA85电路进行了仿真试验,仿真结果表明,该方法能够大量减少测试矢量长度,同时降低了测试时间.
- 潘学文周继承刘建军
- 关键词：内建自测试线性反馈移位寄存器种子
- 测试矢量优化和低功耗协同设计的BIST技术研究
- 随着集成电路设计和制造水平的不断提高,测试面临着越来越多的困难,可测性设计(DFT)成为解决测试问题的主要手段。其中,内建自测试(BIST)能在芯片内部完成自测试,使产品的设计周期缩短,是一种有效的DFT方案,但其也存在...
- 刘建军
- 关键词：内建自测试线性反馈移位寄存器
- 文献传递
- 一种新型低峰值功耗的BIST设计研究
- 2007年
- 随着手持设备的兴起和芯片对晶片测试的要求越来越高,内建自测试的功耗问题引起了越来越多人的关注。文章对目前内建自测试的可测性设计技术进行了分析,并提出了折叠种子优化降低节点峰值功耗的模型,通过调整种子结构和测试向量的相关性的办法来避免过高的SoC测试峰值功耗。采取了屏蔽无效测试模式生成、提高应用测试向量之间的相关性以及并行加载向量等综合手段来控制测试应用,使得测试时测试向量的输入跳变显著降低,从而大幅度降低节点的峰值功耗。实验结果表明,该方案可以有效地避免BIST并行执行可能带来的过高峰值功耗。
- 刘建军刘伟康跃明
- 关键词：内建自测试可测性设计片上系统
- 基于折叠重排的低功耗BIST技术研究
- 2011年
- 为了降低测试功耗,提出一种新的低功耗测试矢量方案,该方案增设了一个可编程的约翰逊计数器。这种技术首先对确定测试矢量进行编码得到LFSR矢量种子,然后对LFSR种子解码、重排得到新的测试矢量。通过ISCAS85实验结果表明,该技术能够改善测试矢量之间的线性相关性,大量减少测试矢量之间的跳变,达到降低功耗的目的。重点介绍了双重编码种子的方法和数据结果分析。
- 谈恩民詹琰刘建军
- 关键词：线性反馈移位寄存器低功耗
