您的位置: 专家智库 > >

周茂峰

作品数:4 被引量:0H指数:0
供职机构:南京大学更多>>
发文基金:国家自然科学基金国家重点基础研究发展计划国家高技术研究发展计划更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇会议论文
  • 1篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 4篇电子电信

主题

  • 3篇氧化锌薄膜
  • 3篇锌源
  • 2篇淀积
  • 2篇气相淀积
  • 2篇金属有机物
  • 2篇金属有机物化...
  • 2篇化学气相淀积
  • 2篇O
  • 1篇氧化锌
  • 1篇气相
  • 1篇气相沉积
  • 1篇气相沉积法
  • 1篇化学气相
  • 1篇化学气相沉积
  • 1篇化学气相沉积...
  • 1篇半导体
  • 1篇半导体材料
  • 1篇MOCVD
  • 1篇MOCVD系...
  • 1篇ZNO薄膜

机构

  • 4篇南京大学

作者

  • 4篇周茂峰
  • 3篇顾书林
  • 3篇朱顺明

传媒

  • 1篇半导体技术
  • 1篇第十五届全国...

年份

  • 1篇2010
  • 3篇2008
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
ZnO薄膜MOCVD系统生长研究
氧化锌(ZnO)是一种直接带隙半导体材料,室温下带隙宽度为3.37eV,激子束缚能为60meV,其在高亮度蓝紫光发光器件、紫外探测器、短波长激光二极管方面具有广阔的应用前景。自1997年ZnO室温受激发射现象的发现,全世...
周茂峰
关键词:氧化锌MOCVD半导体材料
O_2流量对ZnO薄膜生长及性质的影响
2008年
讨论了MOCVD生长ZnO薄膜各种性质随氧流量的变化规律。固定锌源(DEZn)流量改变氧源(O2)流量,采用低压MOCVD在石英衬底上生长一组ZnO薄膜样品。由厚度测量、Raman散射、XRD表征表明,随O2流量增加,ZnO薄膜生长速率先提高后降低,碳杂质有所减少,晶体质量先提高后降低。PL显示,随O2流量增大带内深能级发光带强度逐步增强,带边发光峰强度也有较大变化,薄膜光学质量先提高后退化。霍尔测量表明,随氧流量增大,薄膜电阻率逐渐增加。实验表明不同氧流量对MOCVD生长的ZnO薄膜多种性质都有规律性影响。
周茂峰顾书林朱顺明
关键词:氧化锌薄膜金属有机物化学气相淀积锌源
O_2流量对ZnO薄膜生长及性质的影响
讨论了MOCVD生长ZnO薄膜各种性质随氧流量的变化规律。固定锌源(DEZn)流量改变氧源(O_2)流量,采用低压MOCVD在石英衬底上生长一组ZnO薄膜样品。由厚度测量、Raman散射、XRD表征表明,随O_2流量增加...
周茂峰顾书林朱顺明
关键词:氧化锌薄膜金属有机物化学气相淀积锌源
文献传递
氧气流量对ZnO薄膜生长及性质的影响
本文讨论了MOCVD生长ZnO薄膜各种性质随氧流量的变化规律。固定锌源(DEZn)流量改变氧源(O2)流量采用低压MOCVD在石英衬底上生长一组ZnO薄膜样品。由厚度测量、Raman散射、XRD表征手段表明:随O2流量增...
周茂峰顾书林朱顺明
关键词:氧化锌薄膜化学气相沉积法
文献传递
共1页<1>
聚类工具0