您的位置: 专家智库 > >

李硕

作品数:4 被引量:2H指数:1
供职机构:清华大学信息科学技术学院自动化系更多>>
相关领域:电子电信自动化与计算机技术电气工程更多>>

文献类型

  • 2篇期刊文章
  • 2篇会议论文

领域

  • 3篇电子电信
  • 1篇电气工程
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 2篇自测试
  • 2篇芯片
  • 2篇链结构
  • 2篇功率
  • 2篇故障预测
  • 2篇FPGA芯片
  • 2篇LUT
  • 1篇动态信号
  • 1篇信号
  • 1篇栅极
  • 1篇内建自测试
  • 1篇可靠性
  • 1篇功率MOSF...
  • 1篇功率器件
  • 1篇BIST
  • 1篇IGBT
  • 1篇查找表

机构

  • 4篇清华大学

作者

  • 4篇王红
  • 4篇李硕
  • 4篇杨士元
  • 2篇张双悦

传媒

  • 1篇计算机科学
  • 1篇中国科学:信...
  • 1篇第十五届全国...

年份

  • 3篇2014
  • 1篇2013
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
基于栅极信号的功率器件老化特征分析被引量:1
2014年
本文研究栅极动态信号在功率器件故障预测上的应用.首先介绍了功率器件栅极动态信号反映的相关失效机制,并分析了栅极动态信号的老化特征及影响因素.提出了老化特征提取方法,选定动态过程时间,动态过程面积比率作为老化特征.使用降频错位采样的方法还原高频采样下计算的老化特征,降低利用动态信号进行故障预测的采样频率,以提高方法可行性.通过NASA公布的数据集进行实验验证,提取的老化特征明显,降频采样达到了预期效果.
李硕王红杨士元
关键词:IGBT功率MOSFET故障预测可靠性
FPGA芯片的链结构LUT自测试方法研究
基于内建自测试(BIST)思想的FPGA测试方法利用被测芯片中的资源构建测试所需的TPG或ORA,以减少测试对输入输出引脚和外部ATE的需求.传统的FPGA芯片BIST方法仅考虑自测试结构内被配置为CUT的资源,从而需要...
张双悦李硕王红杨士元
关键词:链结构查找表
文献传递
FPGA芯片的链结构LUT自测试方法研究被引量:1
2014年
基于内建自测试(BIST)思想的FPGA测试方法利用被测芯片中的资源来构建测试所需的TPG或ORA,以减少测试对输入输出引脚和外部ATE的需求。传统的FPGA芯片BIST方法仅考虑自测试结构内被配置为CUT的资源,从而需要进行多次组测试来完成整个芯片的测试。在现有LUT自测试链结构的基础上,通过合理选择TPG的电路结构及测试配置,能够在相同测试开销下增加TPG部分的故障覆盖率,提高测试效率。
张双悦李硕王红杨士元
基于栅极信号的功率器件老化特征分析
研究栅极动态信号在功率器件故障预测上的应用.首先介绍了功率器件栅极动态信号反映的相关失效机制,并分析了栅极动态信号的老化特征及影响因素.提出了老化特征提取方法,选定动态过程时间、动态过程面积比率作为老化特征.使用降频错位...
李硕王红杨士元
关键词:功率器件故障预测
共1页<1>
聚类工具0