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胡一飞

作品数：1 被引量：12H指数：1
供职机构：同济大学更多>>
相关领域：自动化与计算机技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 1篇软件测试
  • 1篇NAND
  • 1篇NAND_F...
  • 1篇YAFFS
  • 1篇FLASH

机构

  • 1篇同济大学

作者

  • 1篇胡一飞
  • 1篇徐中伟
  • 1篇谢世环

传媒

  • 1篇单片机与嵌入...

年份

  • 1篇2007
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
NAND Flash上均匀损耗与掉电恢复在线测试被引量：12
2007年
NAND Flash以其大容量、低价格等优势迅速成为嵌入式系统存储的新宠,因此其上的文件系统研究也日益广泛。本文简要介绍了常用的NAND Flash文件系统YAFFS,并针对YAFFS在均匀损耗和掉电恢复方面进行在线测试。在给出测试结果的同时,着重研究嵌入式软件测试方案和方法;对测试结果进行分析,并提出改进方案和适用环境。
胡一飞徐中伟谢世环
关键词：NANDFLASH软件测试YAFFS
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