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王衍

作品数：11 被引量：23H指数：2
供职机构：中国科学技术大学更多>>
发文基金：国家杰出青年科学基金国家自然科学基金更多>>
相关领域：理学一般工业技术电气工程金属学及工艺更多>>

合作作者

文献类型

  • 8篇期刊文章
  • 2篇会议论文
  • 1篇学位论文

领域

  • 10篇理学
  • 4篇一般工业技术
  • 1篇金属学及工艺
  • 1篇电气工程

主题

  • 6篇C_(60)
  • 5篇TEM
  • 4篇碳60
  • 4篇C60
  • 2篇多层膜
  • 2篇光谱
  • 2篇光谱研究
  • 2篇RAMAN
  • 2篇TEM研究
  • 2篇AFM
  • 2篇AG
  • 2篇粗糙度
  • 1篇单晶
  • 1篇单晶薄膜
  • 1篇单晶生长
  • 1篇导体
  • 1篇电镜
  • 1篇电子显微术
  • 1篇一维随机
  • 1篇原子力显微镜

机构

  • 10篇中国科学技术...
  • 3篇中国科学院
  • 1篇中国科技大学
  • 1篇浙江工业大学

作者

  • 11篇王衍
  • 6篇李永庆
  • 5篇吴自勤
  • 4篇侯建国
  • 4篇侯建国
  • 3篇徐文涛
  • 3篇王兵
  • 3篇张庶元
  • 2篇巴龙
  • 2篇曾建林
  • 2篇朱晓光
  • 2篇李祥
  • 2篇左健
  • 1篇卞波
  • 1篇王海千
  • 1篇吴锋民

传媒

  • 5篇电子显微学报
  • 1篇科学通报
  • 1篇物理学报
  • 1篇中国科学（A...
  • 1篇1996年中...

年份

  • 1篇1998
  • 7篇1997
  • 2篇1996
  • 1篇1994
共 11 条 记 录，以下是 1-10
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排序方式：
C60/Pd多层膜TEM研究
通过蒸发和磁控溅射镀膜的方法,交替沉积 C和金属 Pd 膜,制备了不同周期和厚度比的 C/Pd 多层膜。利用透射电子显微术（TEM）研究了这些薄膜退火前后的结构。
王兵李永庆王衍张庶元侯建国
关键词：电子显微术多层膜TEM
文献传递
Al-C60界面相互作用的Raman光谱研究
用真空气相沉积的方法在 NaCl（001）基片上制备了 Al-C共蒸膜。由于界面上 Al 和 C间的相互作用,Al-C混蒸膜的 Raman 谱相对纯 C薄膜有显著的改变。A（2）模的软化可归因于界面上 Al 和 C之间的...
李永庆徐文涛李祥王衍左健侯建国
关键词：RAMAN光谱研究
文献传递
C_(60)与金属：界面相互作用和取向关系
1996年
Ｃ６０与金属：界面相互作用和取向关系侯建国１，２王兵２张庶元１李永庆２王衍２徐文涛２曾建林２（中国科学技术大学，１．中国科学院成分与结构分析开放实验室，２．基础物理中心，合肥２３００２６）Ｃ６０与金属间的相互作用始终是科学家的关注焦点。在Ｃ６０－碱金...
侯建国王兵张庶元李永庆王衍徐文涛曾建林
关键词：C60金属相互作用显微分析
C60/Ag体系薄膜生长机制与表面粗糙化研究
该文对C60/Ag体系的多层膜、双层膜进行了透射电镜(TEM)和原子力显微镜(AFM)的观察和研究,在薄膜的非平衡生长机制,C60与金属的界面相互作用以及C60-金属低维复合结构的合成方面作了一些尝试和探索.
王衍
Si／Ag／Si和Si／Au／Si薄膜分形晶化的TEM和EDS研究被引量：2
1994年
本文利用透射电镜（ＴＥＭ）和Ｘ射线能谱（ＥＤＳ）对ａ－Ｓｉ：Ｈ／Ａｇ／ａ－Ｓｉ：Ｈ和ａ－Ｓｉ：Ｈ／Ａｕ／ａ－Ｓｉ：Ｈ薄膜的分形晶化行为进行了研究。结果表明薄膜的分形晶化强烈依赖于退火条件，分形的形成可用随机逐次触发形核和生长（ＲＳＮＧ）来加以解释。尽管膜内存在明显的互扩散，Ｓｉ分形区厚度与均匀基体区厚度相近。但在ａ－Ｓｉ：Ｈ／Ａｇ／ａ：Ｓｉ：Ｈ膜中存在部分较大的Ａｇ晶粒凸出膜面。
卞波李伯泉王衍巴龙吴自勤
关键词：分形TEMEDS
一维随机成核生长模型被引量：15
1996年
建立了一种一维随机成核生长模型，在三种不同的近邻条件下进行模拟，得到了一系列聚集生长图形，并计算了相应的分形维数．所得图形与多孔硅形成图样相似．
吴锋民王衍吴自勤
关键词：薄膜生长
C_(60)-Ag薄膜高、低温粗糙表面的标度行为和粗糙化机理的实验研究被引量：5
1998年
利用原子力显微镜和透射电子显微镜对沉积在NaCl衬底上的C60 Ag复合薄膜的表面形貌和微结构进行了研究 .结果表明薄膜表面的粗糙度依赖于衬底的温度 ,当衬底温度从 - 80℃上升到 1 2 0℃ ,薄膜表面发生从粗糙→光滑→粗糙的变化过程 .由于高温和低温条件下 ,薄膜表面的粗糙化机理不同 .高低温的表面虽然具有类似的rms粗糙度 ,但却具有不同的分形标度行为 .同时探讨了标度行为。
侯建国王衍朱晓光朱晓光王海千吴自勤
关键词：表面粗糙度标度性质
C_(60)/Pd 多层膜TEM研究被引量：1
1997年
通过蒸发和磁控溅射镀膜的方法，交替沉积Ｃ６０和金属Ｐｄ膜，制备了不同周期和厚度比的Ｃ６０／Ｐｄ多层膜。利用透射电子显微术（ＴＥＭ）研究了这些薄膜退火前后的结构。
王兵李永庆王衍张庶元侯建国
关键词：碳60钯多层膜TEM
Ag/C_(60)薄膜的TEM及AFM研究
1997年
本文采用真空交替蒸发的方法，在ＮａＣｌ室温和１６０℃衬底上制备了Ａｇ／Ｃ６０薄膜。用透射电镜研究了薄膜的形貌和结构，结果表明：室温下生长的薄膜表面较平坦，Ｃ６０为非晶；１６０℃下生长的薄膜由于Ｃ６０和Ａｇ的界面间互扩散而导致表面粗糙度增加，并依赖于Ａｇ／Ｃ６０的组分比例。用原子力显微镜观察了薄膜表面的形貌即高度分布，分析了薄膜表面粗糙度的动力学标度行为，比较了两种温度下的动力学和静力学标度指数。
王衍侯建国吴自勤朱晓光巴龙
关键词：粗糙度碳60TEMAFM
Al-C_(60) 界面相互作用的 Raman 光谱研究被引量：1
1997年
用真空气相沉积的方法在ＮａＣｌ（００１）基片上制备了ＡｌＣ６０共蒸膜。由于界面上Ａｌ和Ｃ６０间的相互作用，ＡｌＣ６０混蒸膜的Ｒａｍａｎ谱相对纯Ｃ６０薄膜有显著的改变。Ａｇ（２）模的软化可归因于界面上Ａｌ和Ｃ６０之间的电荷转移。但是，要解释上述Ｒａｍａｎ谱中所有的特征，尚须建立一个更复杂的Ｃ６０Ａｌ界面相互作用模型。
李永庆徐文涛李祥王衍左健侯建国
关键词：超导体RAMAN光谱
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共2页<12>
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